产品简介
可测量金属基体上薄绝缘覆膜 在铝业工厂和制罐工厂的实绩多数 测定范围0.5～40µm（其中比重为1时）
膜厚计 薄膜厚度测量仪线规【销售结束】
主要规格
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测量方式 导电率式 测量对象 金属上绝缘覆膜 测量范围 0.5～40μm（其中比重为1时） 测量精度 请联系我们 探测 曲面测量用 显示方式 模拟 电源 AC100V（50/60Hz） 尺寸、质量 190（W）×210（D）×100（H）mm、1.7kg 选项卡页面上创建或编辑条目 平面测量探头