膜厚计涡流膜厚计LH-373

膜厚计

产品简介

涡流膜厚计LH-373
  • 测定非磁性金属上绝缘被膜厚
  • 涡流膜厚计的中位模型
  • 测定范围0~1200µm
  • 数据存储器39000点,统计计算功能

主要规格

测量方式涡流式
测量对象非磁性金属上绝缘覆膜
测量范围0~1200μm
测量精度小于50μm:±1μm、50μm以上1000μm:±2%、1000μm以上:±3%
分辨率小于100μm:0.1μm、100μm以上:1μm
符合标准JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501/ISO2808、ISO2360、ISO2064、ISO19840/BS3900-C5/ASTM D7091-5、ASTM E376
数据存储器数约39000点
校准线存储器应用程序内存:存储100条检测线
探测一点接触恒压式(LHP-J)
显示方式数字(带背光的LCD、最小显示位0.1μm)
外部输出电脑(USB或RS-232C)
电源电池1.5V(单3碱)×4
功耗80毫瓦(背光不亮时)
电池寿命100小时(背光不亮时连续使用)
使用温度范围0~40℃
附加功能各种功能16种
尺寸、质量75(W)×145(D)×31(H)mm、0。34Kg
附属品标准板(10μm・50μm・100μm・500μm・1000μm均为近似值・各1张)、标准板壳、铝坯(NFE-373)、探针适配器、载体盒、电池1.5V(单3碱)×4
选项卡页面上创建或编辑条目标准板(附件以外的厚度)、测量支架LW-990、电脑电缆、RS-232CUSB电缆、数据管理软件:《数据记录器LDL-03》
定价(不含税)¥298000

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