膜厚计电磁膜厚计LE-373

膜厚计

产品简介

电磁膜厚计LE-373
  • 测定磁性体上非磁性被膜厚度
  • 电磁膜厚计的中位模型
  • 测定范围0~2500µm
  • 数据存储器39000点,统计计算功能

主要规格

测量方式电磁感应式
测量对象磁性体上非磁性被膜
测量范围0~2500μm
测量精度小于50μm:±1μm、50μm以上1000μm:±2%、1000μm以上:±3%
分辨率小于100μm:0.1μm、100μm以上:1μm
符合标准JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401/ISO2808、ISO2064、ISO1460、ISO2178、ISO19840/BS3900-C5/ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376
数据存储器数约39000点
校准线存储器应用程序内存:存储100条检测线
探测一点接触恒压式(LEP-J)
显示方式数字(带背光的LCD、最小显示位0.1μm)
外部输出电脑(USB或RS-232C)
电源电池1.5V(单3碱)×4
功耗80毫瓦(背光不亮时)
电池寿命100小时(背光不亮时连续使用)
使用温度范围0~40℃
附加功能各种功能16种
尺寸和质量75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34 Kg
附属品标准板(10μm・50μm・100μm・500μm・1000μm・1500μm均为近似值・各1张)、标准板壳、铁坯(FE-373)、探针适配器、托架、电池1.5V(单3碱)×4
选项卡页面上创建或编辑条目标准板(附件以外厚度)、测量支架LW-990、电脑电缆、RS-232CUSB电缆、数据管理软件:《数据记录器LDL-03》
定价(不含税)¥218000

目录使用说明书

产品咨询

请稍候,直到显示表格。

不好意思,如果您等了一会儿还没有看到表格这里中所述修改相应参数的值。