膜厚计电磁膜厚度计LE-200J【停止销售】

旧产品
膜厚计

产品简介

电磁膜厚度计LE-200J【停止销售】
  • 内置打印机的电磁膜厚计最高型号
  • 测量范围0~1500μm
  • 测量精度小于15μm:±0.3μm、15μm以上:±2%
  • 数据存储器1500点,统计计算功能

主要规格

测量方式电磁感应式
测量对象磁性金属上非磁性覆膜
测量范围0~1500μm
测量精度小于15μm:±0.3μm、15μm以上:±2%
分辨率小于100μm:0.1μm、100μm以上:1.0μm
符合标准JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401/ISO2808、ISO2064、ISO1460、ISO2178、ISO19840/BS3900-C5/ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376
统计功能测量次数、平均值、标准偏差、最大值、最小值、块编号
探测一点接触恒压式(LEP-J)
显示方式数字(LCD,最小显示位0.1μm)
外部输出RS-232C接口(传输速度2400bps)
电源AC100V(50/60Hz)或电池1.5V(单3碱)本体部×6、打印机部×4
尺寸、质量120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg
附属品标准板(10μm・50μm・100μm・350μm・800μm・1mm均为近似值・各1张)、铁坯、标准板壳、电池1.5V(单3碱)、交流适配器、探针适配器、打印机纸张、手提箱
选项卡页面上创建或编辑条目L字型探头(LEP-21L)、RS-232C连接电缆数据管理软件“数据记录器KDL-01”、“McWAVE Lite”、“McWAVE Standard”、“McWAVE Professional、MultiProp”
定价(不含税)¥438000

目录使用说明书

现在发售中的产品