膜厚计L-330J系列【销售结束】

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膜厚计

产品简介

L-330J系列【销售结束】
  • 探针式手持装置
  • 统计计算功能

主要规格

测量方式电磁感应式或涡流式
测量对象磁性金属上非磁性覆膜或非磁性金属上的绝缘覆膜
测量范围0~1500μm/60.00mils或0~800μm/32.00mils
测量精度小于50μm:±1.0μm、50μm以上:±2%
分辨率小于100μm:0.1μm、100μm以上:1.0μm
最小测量面积5×5mm
数据存储器数约3142点
校准线存储器电磁式、涡流式各4种共计8根
统计功能测量次数、平均值、标准偏差、最大值、最小值
显示方式数字(LCD,最小显示位0.1μm)
外部输出RS-232C接口(传输速度2400bps)
电源电池1.5V(单3碱)×4
电池寿命连续60小时
使用温度范围0~40℃
尺寸、质量75(W)×145(D)×31(H)mm、0.5 Kg

目录使用说明书

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