膜厚计探测HP-100

膜厚计

产品简介

探测HP-100
  • 膜厚计L-500用新开发探针
  • 涡流式探针（非磁性金属坯料用）
  • 最多存储50个应用程序内存

产品咨询

请稍候，直到显示表格。

不好意思，如果您等了一会儿还没有看到表格这里中所述修改相应参数的值。