产品简介
膜厚计L-500 用新开发探针 电磁式探头（磁性金属坯料用） 最多存储50个应用程序内存
膜厚计 探针EP-100
主要规格
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测量方式 电磁感应式 测量对象 磁性金属上非磁性覆膜 测量范围 0～2500μm 测量精度 小于15μm±0.3μm 15μm以上1000μm以下±2% 1000μm以上±3% 对应器种 膜厚计L-500 定价（不含税） ¥110000