从边界测量中求电导率中夹杂物凸包的数值方法

@文章{Ikehata2000NumericalMF,title={从边界测量中求电导率中夹杂物凸包的数值方法},作者={M Ikehata和S Siltanen},journal={反问题},年份={2000},体积={16},页码={1043-1052},url={https://api.semanticscholar.org/CorpusID:250907115}}
我们考虑定义在具有C∞边界的有界域Ωℝ2中γ=1+χDh形式的电导率的二维逆电导率问题。这里D⊂Ω和h∊L∞(D)是这样的,γ沿导数D有跳跃。Ikehata证明了Dirichlet-Neumann映射确定了指示函数Iω(τ,t),该指示函数可用于求D的凸壳。本文对具有常数h的例子,用数值方法求出了指示函数,并恢复了该指示函数

裂纹反问题的封闭方法和Mittag–Leffler函数

考虑二维拉普拉斯方程的一个反边值问题。问题是提取有关未知曲线的位置和形状的信息,这些未知曲线是一个数学模型

点测量阻抗层析成像的形状优化方法

在分段恒定电导率类中,电阻抗层析成像的逆问题可以重新描述为形状优化问题,其中不连续界面

电阻抗断层成像分层的贝叶斯滤波方法

层剥离是一种求解椭圆偏微分方程反边值问题的方法,最初是在解决电阻抗断层成像的Calderón问题的文献中提出的

指数增长解、多层各向异性材料和封闭方法

由z·z=0的复向量z参数化光滑γ0的椭圆方程+·γ0+u=0的指数增长解的形式为u~ex·z/√γ0 as |z|-→∞

电阻抗成像中三维夹杂物的局部检测

假设给定一个三维有界区域,其内部电导率分布未知。此外,假设电导率由已知背景和未知异常组成

从边界测量直接重建电导率

提出了一种新的数值重建方法,该方法无需迭代即可直接求解非线性问题,并通过引入新的正则化方案进行了扩展,在含有计算机模拟噪声的对称和非对称数值算例上进行了理论分析和测试。

无限平板中的反电导问题

我们考虑无限板的逆电导问题,这从实用的角度来看是很重要的。我们给出了提取包含位置信息的公式

部分边界电极测量的全边界数据近似

通过提高基于连续体模型的算法的重建质量,特别是D-bar方法的有效性,可以获得近似的全边界数据,作为Neumann-to-Dirichlet映射系数的适当优化问题的解决方案。

关于单点源障碍物逆散射问题封闭方法的注记

本文给出了封闭方法在二维亥姆霍兹方程控制的障碍物逆散射问题中的应用。结果表明,一个人可以