硅和锗的X射线反常散射因子

硅和锗的X射线衰减系数的精确测量已用于确定与光效应截面相关的色散校正。将结果与基于相对论和非相对论量子力学的计算进行了比较。提出了一种新的符号，以便于实验结果和理论结果之间的比较。

用以解毒的：测定混合氧化态物种反常散射因子的程序

一种用于对多个相邻吸收边进行去卷积并计算（f）'和（f）显示“”。

基于原子散射因子实部的相位变化较大并影响摇摆曲线的峰值位置这一事实，提出了一种确定非常靠近吸收边的反常散射因子的方法。作为一个例子，锗的反常散射因子的测定精度优于1%。

探讨了反常散射因子在相干散射光子角分布中的作用。

开发了一种非破坏性X射线实验室方法，用于测定沿z（z）轴表示多孔层，这进一步允许对孔隙度梯度进行量化。因此，采用不同入射角的掠入射X射线衍射，获得了大范围的X射线穿透深度，直至多孔硅层与衬底的界面。

共振非弹性X射线散射（RIXS）实验需要针对每个不同的吸收边能量或发射线使用特殊的近后向散射球形切块分析仪和高分辨率单色仪。为了帮助设计和规划高效的RIXS实验，本文介绍了适用于硬X射线的晶体材料和可行反射的汇编，以及能量分辨率和吞吐量信息。

在这项工作中，对聚苯乙烯中炭黑（CB）和锌的结构因子进行了独立估算-跑-丁二烯）/CB含锌体系，使用反常小角度X射线散射方法。CB的颗粒结构因子表明，CB聚集体由封闭的CB初级颗粒组成。经鉴定，氧化锌和硫化锌的大颗粒大小约为10nm。

计算并量化了热扩散散射（TDS）对积分布拉格强度的贡献，并研究了未修正TDS对晶体模型的影响。

代号为AniCryDe公司为了计算硅或锗晶体的各向异性弹性性质，已经发布了。对于选定的晶体取向，AniCryDe公司计算几个关键的机械参数。该程序具有用户友好的界面，使其易于操作和直观。

有效用于实验的硅和锗晶体中的各向异性变形是准各向同性曲率，它涉及各向同性介质中平坦的晶面曲率。这里，通过对称配置中的准原子效应获得了硅晶体中{110}平面的曲率，并在法国格勒诺布尔的欧洲同步辐射设施进行了实验验证。

搜索IUCr日志		国防部		高级搜索
作者		体积	第页