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编写了一个计算机程序,目的是在不使用晶体学表的情况下计算粉末图案。这是通过从Hermann-Mauguin空间群符号导出所有对称信息(例如一般等效位置)、自动计算特殊位置的多重性以及存储必要的常数(例如散射因子表)来实现的,程序中的异常色散校正项和X射线波长。由于输入数据量非常有限,该程序特别适合结晶学知识有限的用户。

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在全剖面拟合程序中使用遗传算法来搜索具有较大不确定性的合适基本参数。

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本文描述了一个计算机程序,其目的是从X射线或中子衍射数据中细化电池参数。它在处理粉末衍射图案时特别有用,因为它可能()根据参考反射修正测量的衍射角(b条)计算理论粉末衍射图,包括强度。必须提供最少的晶体学信息,并且输入部分为自由格式。计算了E.s.d.的胞内参数和体积。它可以处理α1α2分割并计算出,除了理论上的线条位置外,还可以得到一个更真实的位置,即胶片上的给定反射。

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开发了显微镜和显微分析的计算机程序,将多晶体材料的电子衍射图样(环)转换为X射线衍射图样,以便使用X射线衍射软件工具进行分析。

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描述了一种基于德拜散射方程计算常规晶体粉末X射线或中子衍射图样的方法。生成了完整的背景和反射剖面,其中还考虑了微晶尺寸以及静态和热无序的影响。

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FULLPAT公司是一种定量X射线衍射方法,它融合了现有全模式拟合方法和传统参考强度比(RIR)方法的优点。与Rietveld定量分析方法一样,它使用完整的衍射图案,包括背景;然而,FULLPAT公司可以明确分析样品中的所有相,包括部分有序或非晶相,如玻璃、粘土矿物或聚合物。

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斯里特维尔描述了一个基于Python的Rietveld精化程序。斯里特维尔扩展并自动化流行的现有Rietveld程序FullProf教授GSAS公司促进涉及许多改进的研究,例如对大量数据集的分析。

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里特维尔[J.应用。克里斯特。(1969),2,65–71]粉末衍射图样的结构精细化方法广泛用于中子数据,越来越多地用于X射线数据。已经编写了一个计算机程序,用于应用X射线数据或中子核散射数据的方法从头算努力使其通用性、面向用户、可移植性、方便性,并且基本上是独立的,但又相当全面。它是模块化的结构,以便于用户进行所需的修改,其中之一可以是对现在包括的四个配置文件功能的选择的添加。该程序可容纳一个或两个波长(例如α1和α2λλ/2). 它允许同时细化两相结构和背景。

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iQual公司是一个计算机程序,它利用优化的Crystal_db数据库(源自Crystalography Open database)来高效搜索和匹配用于定性相分析的实验X射线衍射图案,采用两步方法和矩阵运算来提高效率。

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