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利用能量扫描X射线衍射技术研究了一种合成的具有两种非晶成分的周期性多层结构。来源是轫致辐射探测器是硅锂二极管。大周期多层PdSi/MgCu的实验结果与经典布拉格定律存在偏差。这种偏差是由多层膜的折射率随入射X射线波长的变化而产生的。期间d日已确定在1%以内。折射率的测量可以估算出每一层的宽度。也可以根据最大强度下衍射布拉格峰的全宽来估计沿多层膜的周期波动。讨论了该方法的局限性。

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在极低温度下HoAlO显示了存在由超精细相互作用诱导的耦合电子核有序的单线态基态系统的磁性能特征。0.04 K下的中子衍射测量表明存在反铁磁排列Gx个A类001反射的热依赖性导致临界温度为0.16 K。

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报道了两种水合高岭石的X射线衍射研究,其特征是基面距离分别为10和8.4º。该研究基于实验和计算剖面之间的比较。

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