短通信

《水晶学报》。(1966).20,922-924
https://doi.org/10.107/S0365110X66002135

X射线谱线展宽的晶粒尺寸和晶格畸变参数

D.R.布坎南,R.L.麦卡洛和R.L.米勒

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衍射线轮廓分析中的尺寸-应变分离

P.斯卡迪,M.Ermrich先生,A.惠誉,E.-W.黄,R.贾丁,R.库泽尔,A.莱纽贝尔,A.门多扎·库瓦斯,S.T.迷雾,雷布菲和C.Schimpf公司

在实验室仪器和使用不同辐射、光学、探测器和实验配置的同步辐射光束线的循环中，研究了尺寸和应变对衍射线轮廓的分离影响。所研究的样品是一种广泛球磨的铁合金粉末，由于畴尺寸展宽和应变展宽的尺寸相当，因此提供了一个理想的测试案例。

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材料中应变场引起的衍射线展宽；基本方面和分析方法

J.G.M.van Berkum先生,R.德赫兹,H.de Keijser先生和E.J.Mittemeijer公司

讨论了材料中应变场引起的衍射线展宽。提出了一种普遍适用的晶格缺陷及其畸变场分布模型。

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晶格畸变评估的周期位错组态分析：细观力学方法和X射线衍射线展宽

H.布格拉,K.伊纳尔,H.萨巴尔和M.Berveiller先生

这项工作涉及位错微观结构分析，以便使用衍射线的傅里叶系数评估存储的弹性能量。这些系数与使用微观力学方法评估的晶格畸变异质性有关。

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部分稳定氧化锆纳米粉体中铕组分波动的测定：一种基于非线性的方法

R.马林,G.海绵,M.背面和P.里埃罗

本文根据部分转化样品的X射线衍射图谱的比较，讨论了一种测定部分稳定氧化锆成分起伏的新方法。

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线和平面晶格缺陷引起的X射线衍射谱线各向异性展宽的傅里叶模拟

P.斯卡迪和利奥尼先生

由于线性和平面晶格缺陷的影响，一种新的线性文件展宽模型被纳入传统的Rietveld算法中，用于粉末数据的结构细化和全图拟合。本文介绍了面心立方结构的理论和应用实例。

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粉末衍射图样中非公度相显示的微列状衍射线展宽

A.莱纽贝尔和V.彼得里切克

从理论上分析了非公度调制相位的晶格和调制参数的变化以及由此产生的谱线展宽。

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Warren-Averbach分析和分离尺寸和应变加宽的替代分析的适用性

J.G.M.van Berkum先生,A.C.Vermeulen公司,R.德赫兹,T·H·德·凯泽和E.J.Mittemeijer公司

研究了Warren-Averbach分析和分离尺寸和应变对衍射线展宽贡献的替代分析的有效性。分析应用于模拟和实验线型。模拟线轮廓的傅里叶系数由特定晶格缺陷周围畸变场的表达式导出：错配夹杂物和小角度晶界。还对塑性变形试样（薄铝层和球磨钼粉）的实验粉末衍射线轮廓进行了适用性测试。得出的结论是，对于这两种方法，都存在有限但不同类别的样本，它们给出了有意义的结果。实际上，每次进行分析时，必须根据普通（物理）感觉和样本上的所有可用信息对结果进行测试。

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拓宽微观结构分析程序(BMAP公司)：各向同性和各向异性微晶尺寸和应变计算器

E.Kh.Mahmoud（马哈茂德）,M.R.Ebeid先生,Kaid硕士和M.G.S.阿里

讨论了微观结构（尺寸/应变）分析的简化计算机程序。考虑到NiO纳米粒子的各向同性和各向异性，研究了不同模型的兼容性。

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氧化铈圆棒试样的尺寸应变线软化分析

D.巴尔扎尔,N.奥德布兰德,M.R.Daymond先生,A.惠誉,A.休厄特,J.I.朗福德,A.勒贝尔,D.卢埃尔,O.马森,C.N.McCowan先生,北卡罗来纳州波帕,P.W.斯蒂芬斯和B.H.托比

本文介绍了一种氧化铈大尺寸应变圆形试样的线软化分析。使用包括同步加速器和中子源在内的七种仪器进行的测量是尺寸-应变线增强分析方法循环的基础；给出了结果并进行了讨论。

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