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介绍了在X射线线形分析的方差法中消除卫星群影响的三种方法。第一种是对卫星组下的线轮廓进行插值:然而,卫星组必须与α1尾巴和背景。第二种方法是通过图形结构校正实验方差-范围曲线:这假设卫星线和加宽函数是柯西形式。第三种方法是通过使用有和无卫星群的模型谱分布计算线性方差-范围函数的斜率和截距的必要修正。前两种方法应用于铁和铁合金粉末的轮廓,用铁辐射研究,第三种方法使用铁的光谱分布的分析模型K(K)α多重态。这些方法对方差-范围函数的斜率和截距进行的修正对于所有粒子尺寸加宽量最小的粒子几乎都是恒定的。还表明,如果不对卫星群进行校正,则根据方差斜率或截距确定的粒径将被低估。

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采用X射线线形分析的方差法,测定了压缩变形镁合金中位错微观结构的统计特性。

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电子密度图的方差(观测值、差值和混合值)估计为P(P)1假设相位按照von Mises分布的正确值分布。

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描述了一种从小样品的角度相关镜面X射线反射率剖面中去除几何因素影响的数据简化程序。

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提出了一种基于Rietveld全图案填充方法的全自动搜索匹配方法。该方法不依赖于峰值位置,不仅可以识别相位,还可以量化相位及其大体显微结构特征。

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本研究提出了一种新的计算平均晶粒尺寸和根方应变的方法,该方法将方差法与衍射曲线的拟V oigt函数拟合相结合。

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铁粉末的同步辐射X射线衍射数据具有超洛伦兹峰形状,并具有各向异性的峰加宽。使用Rietveld方法、修改的Williamson–Hall图和全粉末模式模型进行详细的微观结构(单峰和双峰)分析,以研究衍射模式的这些特征。双峰分析方法提供了改进的轮廓拟合,微结构的两个组成部分具有不同的位错密度和较宽的对数正态晶畴尺寸分布。

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对于任何空间群,无论是中心还是无中心,都可以估计电子密度图中任何点的方差。无论结构模型多么糟糕,都可以进行计算。

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采用分析超速离心(AUC)和小角散射(SAS)相结合的方法AUC–SAS,对溶液中的生物大分子进行了结构分析。在本研究中,对AUC–SAS的第一个版本进行了改进,以便适用于具有大量聚集体的溶液。

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评估15这是一种新的衍射数据积分方法,可以预测用于确定准确强度的反射剖面。它可以解决一系列困难的衍射问题,例如与重叠有关的问题,K(K)α1/K(K)α2峰值分裂和卫星反射。

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