用锗探测器测量的X射线光谱中逃逸的校正

用锗探测器测量的X射线光谱可以进行逃逸校正。已经实施了执行校正的数值程序。该方法采用逐点减法，并考虑到与能量相关的检测器分辨率。

测量微晶中依赖能量的光电子逃逸

使用PILATUS CdTe探测器，在金刚石光源的微焦点光束线I24上测量了13.5keV和20.1keV低温TEM栅极上安装的hen-eg白色溶菌酶微晶的光电子逃逸导致的晶体寿命增加。

提出了一个考虑死区时间随光子能量变化的分析模型，并进行了实验测试。它可以在56 kHz计数率下准确补偿超过一半计数低于3 keV的光谱损失，并且在所有实验条件下都优于标准模型。

报道了在包括掠射角在内的大范围入射角下，反射和折射过程对全电子产额谱演化的影响。

这项工作描述了一种处理荧光X射线吸收光谱中遇到的自吸收效应的实验方法及其在地表和地下的应用。

本研究提出了X射线吸收光谱（XAS）的迭代布拉格峰消除和自动强度校正（IBR-AIC），这是一种针对晶体材料分析中布拉格峰干扰的新方法。将实验技术与复杂的后处理相结合，包括缩放吸收系数的迭代算法和消除布拉格峰，这种方法在提高这些材料的XAS数据质量方面显示出巨大的前景。

样品在低角度的高散射功率可能导致在测量的小角度和超小角度X射线散射图案中产生显著的二次散射贡献。提出了一种校正程序，用于消除多余的强度并改善测量的动态范围。

报道了平板探测器的各种特性。给出了它在同步辐射光源中的应用实例。

提出了一种校正X射线光谱中畸变脉冲产生的计数损失的方法。与脉冲消除法相比，脉冲修复法获得的计数率增加了约3%，脉冲修复方法获得的峰面积之和与脉冲消除方法获得的峰值面积之和增加了约2.7%。

本文介绍了Python软件，该软件具有用于空间畸变校正的图形用户界面（GUI），使用任何规则网格作为校准模式并生成样条文件。

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