X射线衍射速度的校正

通过对理论公式的最小二乘拟合，以高斯或洛伦兹偶峰作为衍射峰的形状，得到了单晶X射线衍射术中因死时间效应引起的计数损失的修正公式。通过阶跃扫描获得三种不同晶体类型的校正数据，实现了拟合。结果表明，这种校正在数据还原过程中易于应用，在定量上是令人满意的，并且对于精确X射线晶体学的任何研究都是必要的。

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连续双光束衍射登记的温度修正K（K）α

R.de Kouchkovsky先生

为了在连续衍射记录的情况下准确测量X射线积分强度β-已过滤K（K）辐射，基于柯西函数对衍射轮廓的近似，提出了一个死时间修正公式。

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相结构paraélectrique et ferroélecrique de Pb₂KNb（克朗）₅O（运行）₁₅

Sciau博士,G.卡尔瓦林et（等）J.拉维兹

铅的顺电相₂KNb（克朗）₅O（运行）₁₅居里温度以上有一个四方钨硼结构(T型_C类=730 K）。下方T型_C类结构轻微畸变（正交），相为铁电和铁弹性相。本文介绍了用X射线和中子粉末衍射对这两种相的结构进行的研究。

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振动修正-获得粒子尾迹的dans les分布-衍射轮廓的partir des profils de raies de衍射

F.de Bergevin先生et（等）P.杰米

根据衍射轮廓计算的粒度分布经常受到虚假振荡的干扰。我们提出了一种方法来抑制或减少由于在原点（零尺寸）错误校正峰值和错误背景导致的寄生效应。该方法使用形式为K（K）罪X（X）/X（X）,K（K）由方差范围函数渐近线的截距确定。考虑到一个理论示例的讨论表明，在分布原点附近可能存在较大误差（非常小的粒径），但对于其他尺寸，结果通常比在原点将分布固定为正确值时获得的结果要好。

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人造丝X射线衍射轮廓的直接校正方法

D.卢埃尔,D.魏格尔et（等）R.卢布托

正在开发一种通过反褶积校正X射线粉末衍射线轮廓的新方法。利用线性方程组的求积公式，对表示真实衍射线轮廓变形现象的卷积方程进行了探讨。该系统的不良条件导致使用了一种稳定方法，使其能够获得收敛到满足物理现象的真实解的结果。描述了所使用的求积公式。此方法已在Fortran II中为IBM 1620编程。

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对称性和模块化结构的衍射增强

A.倭原,B.苏维涅尔和M.内斯波洛

导出了单原型模结构中对称性衍射增强的充要条件。

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人造丝X射线衍射谱分析中畸变和结晶体尾部的评估方法比较

D.卢埃尔,R.Coupéet（等）A.勒贝尔

开发了一种基于连续卷积运算的程序，并将其与Warren-Averbach方法相关联。介绍了其在冷加工氟化锂样品中的应用。将微应变结果与包括直接反褶积方法在内的经典方法所得结果进行了比较。实验表明，反褶积操作所涉及的困难对经典X射线线性投影分析评估微应变没有显著影响。

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人造丝X射线衍射轮廓的直接校正方法III、卷积最优解的理论研究

R.卢布托et（等）D.卢埃尔

给出了卷积方程的解。严格的数学处理表明，只有一种解决方案符合物理条件。通过原始反褶积方法（允许分离唯一解）和线性规划方法，将这些结果应用于离散示例。所得结果不令人满意。这是因为问题的离散性和测量误差的影响。为了获得可接受的解决方案，有必要引入加权因子，就像在LWL方法中所做的那样。

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人造丝X d’une poudre d’hydroxide de ni衍射实验课

D.卢埃尔,D.魏格尔et（等）J.I.朗福德

对氢氧化镍粉末样品的001100和102条X射线衍射线进行了测量，并使用各种宽度测量方法对数据进行了分析。Ni（OH）试样₂由硝酸氢氧化镍的水解得到。通过Stokes和LWL方法以及衍射轮廓的方差对仪器和光谱展宽进行了校正。对两种反褶积方法进行了比较，并获得了有关粒子大小和形状的信息。从001和100行可以看出，微晶近似于圆柱板，其截面大致为圆形或六角形，直径为388º，平均高度为66º。102线的观察表观尺寸与使用上述尺寸计算的值之间的良好一致性证实了这一结果。方差法中对锥度参数的考虑表明，横截面在垂直于圆柱轴线的方向上不均匀c（c）单元单元的轴，例如，如果圆柱体的端部不是平面的，则会出现这种情况。

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人造丝X射线衍射轮廓的直接校正方法II。X射线衍射谱非轮廓记录的影响

D.卢埃尔et（等）D.魏格尔

第一部分所述的反褶积数值方法用于研究衍射仪的展宽因子：接收狭缝。通过考虑这一因素，验证了这种直接反褶积方法的有效性，这种方法也适用于分析剖面和实验剖面。将这些结果与用Stokes方法对线轮廓进行傅里叶分析得到的结果以及用Ergun方法得到的结果进行了比较。实验研究表明，接收狭缝与X射线束之间平行度发散的重要性。

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