Enraf-Nonius CAD-4衍射仪经过专门改装，安装在计算机自动对准托架上，用于SSRL的同步辐射X射线源。使用了分离功能聚焦单色仪系统[Hastings，Kincaid&Eisenberger（1978）]。编号。仪器。方法,152，167–171]以提供可从3–9 keV快速调谐的辐射。开发了用于波长校准和监测储存光束衰减的测角仪自动对准软件。积分反射强度是使用细焦点X射线管（镍过滤铜）记录的相同反射的40倍Kα，40 keV，30 mA），对于3.7 GeV和20 mA的SPEAR条件，使用碰撞光束。对于镶嵌分布较低的晶体，反射宽度约为0.015°。对于这种窄反射，积分强度的测量精度可达2.7%。对于较宽的反射，已获得2.1%的精度。通过比较同步辐射和密封管源收集的数据，得出了对-系数基于F类1.8%。因此，很容易从同步辐射数据中获得准确的结构因子。高度镶嵌单色器晶体的使用导致了强度增加，但牺牲了更宽的扫描宽度。该仪器可以在靠近吸收边缘的地方进行反常散射实验，从弱衍射样品中快速收集数据，并可能提高低镶嵌性样品的信噪比。
