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提出了一种对半晶体材料散射的小角度X射线散射(SAXS)强度进行背景校正的新方法。将样品在非晶状态下散射的强度作为背景散射,应用该方法对老化尼龙1010散射的SAXS强度进行背景校正,确定结晶相和非晶相之间的过渡层宽度为2.0nm。

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作者提出的背景校正方法[Meng(1992)]。J.应用。克里斯特。 25,646-647]已经应用于来自老化Cu的小角度散射数据736815金属玻璃。在对老化玻璃中出现的晶相体积分数进行校正后,使用淬火样品中观察到的散射强度对老化样品中观察的强度进行背景校正。修正后的强度满足Porod定律。

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对非弹性散射对电子衍射强度的作用进行了实验和计算研究。

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计算了反射式液体电池中子束散射产生的背景场,并与实验测量值进行了比较。在中子反射计测量中使用整个背景场进行背景减法,可以显著提高测量精度并降低测量不确定度。

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本文描述了在小角中子散射测量中测定气体、液体和固体等物质背景散射的定量方法。通过了解背景对材料类型、厚度、波长和温度的依赖性,研究人员可以设计实验,使背景散射最小化,从而提高背景校正数据的统计准确性。

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从合成聚合物形成产品的过程通常会产生形态较低的材料(正交、单斜、,)对称性。通过小角度散射(SAS)表征这种形态需要映射来自这种材料的全三维散射图案。这需要SAXS(小角度X射线散射)或SANS(小角度中子散射)实验中的特殊协议。此类实验的SAS模式通常包含来自多个散射机制的贡献。在半结晶聚合物的情况下,我们发现记录SAS模式作为温度的函数,使分析员能够将两相形态产生的贡献与其他效应(如空隙和长程分子关联)产生的贡献分开。本文介绍的同步加速器SAXS观测将我们之前对二维SAS模式中温度引起的对比度变化的分析扩展到了两个有趣的三维情况。

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本文描述了一种适用于生物溶液和软材料的用户友好型高压小角度X射线散射池的实现。

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提出了一种利用Rietveld细化对半晶材料进行定量分析的简单方法。该方法需要了解化学成分,但它没有任何内部标准。

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对晶格移位缺陷的串行晶体学衍射强度进行校正,可以解释时间分辨的串行飞秒晶体学数据,以探测脊椎动物视觉中的第一个分子运动。

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样品在低角度的高散射功率可能导致在测量的小角度和超小角度X射线散射图案中产生显著的二次散射贡献。提出了一种校正程序,用于消除多余的强度并改善测量的动态范围。

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