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一本小说就地使用高速X射线原子力显微镜就地在正入射X射线实验中表征半导体有机薄膜的辐射损伤。观察到特定时间尺度上发生的局部形态损伤,并将其与衍射图案的相应变化进行了比较。

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原子力显微镜(AFM)可用于研究大分子晶体的生长就地,并推导该过程的机械、动力学和现象学特性。

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本文描述了对{\bb Z}-通过高分辨率电子显微镜(HREM)、扫描透射电子显微镜(STEM-BF)和大角度环形暗场(STEM-HAADF)在NiZr中发现模缺陷(孪晶、平移断层和模位错)。

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研究了不同退火参数下ZnO薄膜的残余应力和压电性能。用压力电子显微镜测量了样品在不同频率下的振动振幅。

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使用原子力显微镜(AFM)对大分子晶体生长进行直接可视化,为描述生长过程的机理和动力学提供了强有力的工具。它还使我们能够评估蛋白质、核酸和病毒晶体中的各种杂质。使用AFM可以对影响这些晶体的缺陷和不完美、毒害其表面的杂质层以及各种因素对形态发展的影响进行成像。所有这些都可以在正常生长条件下,在天然母液中,在几分钟到几天的时间间隔内,在分子水平上进行记录。

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高分辨率原子力显微镜研究表明,四方溶菌酶晶体(110)面上的分子堆积对应于4螺旋线。

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时间分辨原子力显微镜研究表明,四方溶菌酶晶体(110)面的生长单元至少为四聚体大小,对应于4螺旋线。

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植物种子蛋白刀豆球蛋白的半面孪晶菱形晶体被成功精制。他们通过原子力显微镜进行的研究揭示了一种广泛的缺陷结构,这可能是孪晶的结果。

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