反射几何中X射线衍射吸收效应的通用模拟

提出了一种模拟任意光栅化样品吸收效果的光线追踪算法。该算法用于分析样品表面材料分布的横向和纵向尺寸对吸收校正的影响。

中子衍射的吸收修正

A.W.休厄特

Rouse、Cooper、York和Chakera列出的传输系数[《水晶学报》。(1970). A类26，682-691]用于微米<1可以表示为两个因子的乘积：比例因子和Debye-Waller因子。在球体或圆柱体的情况下，吸收校正会在细化结束时简化为对这些参数的简单调整，而不是对数据本身进行繁琐的校正。结果对粉末数据特别有用。原始纸张中的打印错误也会得到纠正。

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吸收塔B-7和吸收塔-GUI用于单晶吸收校正

R.安吉尔和J.冈萨雷斯-普拉塔斯

吸收，一个用于计算和应用单晶X射线强度数据的吸收校正的程序，已经过重新配置，允许从外部数据处理程序直接调用它。吸收塔-GUI已开发用于更容易规范标准实验。

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中子衍射的吸收修正

K.D.劳斯,M.J.库珀,E.J.约克和A.查卡拉

圆柱形和球形晶体的吸收修正值已通过数值积分进行评估μR（微R）在0到1.0的范围内，其中μ是平均线性吸收系数R（右）是晶体的半径。对于此范围μR这是中子衍射数据通常需要的，从现有表格中进行插值是不令人满意的。传输系数A类_{香港特别行政区}以函数形式列出μR（微R）和罪恶²θ，精确到小数点后四位。为制表选择的间隔应确保中间值可以使用线性插值。还给出了在可接受较低精度的情况下，可用于计算传输系数的解析表达式。

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中子劳厄衍射仪的精确数据处理

R.O.皮尔茨

提出了一种中子劳厄衍射仪强度校正和合并的算法。示例包括使用实验数据与早期劳厄数据处理算法进行比较。

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圆柱体吸收修正计算的效率

T.艾达

研究了圆柱体吸收修正计算的效率。将高斯-勒让德求积应用于托基尔森和拉森提出的公式，得到的结果相对误差≤10⁻⁶在数值积分中有12×12项。

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基于层析重建的X射线晶体追踪分析吸收校正

Y.Lu先生,R.杜曼,J.拜尔斯滕·埃德曼德,G.冬季,M.巴沙姆,G.埃文斯,J.J.A.G.坎普斯,A.M.奥维尔,H.-S.Kwong先生,K.Beis公司,W.阿莫尔和A.瓦格纳

提出了一种用于X射线晶体学分析吸收校正的基于层析的射线追踪方法。来自长波长高分子晶体学实验的几个例子证明了这种新方法的有效性。

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从反常衍射改进铀弥散修正

G.伦德斯,奥·格伦达尔,一、艺术,R.贝斯,一、普罗哲耶夫,S.奥尔拉特,A.惠誉,K.Kvashnina公司和M.Verwerft先生

报道了两种利用反常粉末衍射数据改进铀弥散校正的新方法，即使用某些反射强度或全模式Rietveld改进。这些方法促进了衍射反常精细结构在铀化合物中的应用，为评估混合价化合物等复杂材料开辟了新的可能性。

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PDF获取N3：中子粉末衍射数据的原子对分布函数特别的更正

P.Juhás先生,J.N.卢文,L.van Eijck先生,E.T.C.沃格特和S.J.L.比林

PDF获取N3本文介绍了一个从恒波长中子粉末衍射数据中获得偶分布函数的软件程序。

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飞行时间中子粉末衍射数据的数值修正

M.Avdeev先生,J.约根森,S.短款和R.B.冯·德雷勒

通过使用峰值位置和指数分布函数系数变化的查找表，而不是使用这些值的经验关系，可以提高中子飞行时间数据的Rietveld精化的质量。

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