应变硅晶体中超声诱导的摇摆曲线变窄效应

为了研究应变硅晶体，将声表面波与双晶X射线衍射仪相结合。由于超声波引起的X射线轨迹改变，在摇摆曲线中观察到了变窄效应。结果表明，窄化效应与晶格应变密切相关，可用于提高X射线衍射技术的应变灵敏度。

加宽和摇摆曲线的通用理论

建立了描述位错晶体衍射峰径向线展宽和摇摆曲线展宽的统一理论。结果表明，非局部应变张量的极分解比分离成对称和反对称张量分量更适合描述基本布拉格反射周围的强度分布。

摇摆曲线的加宽仍然可以用于研究用于X射线光学应用的高质量样品。然而，这种方法必须扩展到其极限。

考虑了平截面和楔形截面多层膜中X射线劳厄衍射的动力学理论。得到了描述深度不均匀结构中劳厄衍射的递推关系。

利用Takagi–Toupin动态衍射理论，对垂直排列的100µm宽掺铝沟道贯穿整个硅片的硅片中的高分辨率X射线劳厄衍射进行了实验研究和模拟。衍射和透射X射线束强度的计算角度相关性证实了实验测量的摇摆曲线，并表明其对通道中的结构畸变具有很高的灵敏度。

完美矩形中摇摆曲线的理论

使用Takagi-Taupin方程对晶体进行了概述。给出了锗和硅中不同散射几何体的计算实例。

建立了一个层状模型来预测矢状弯曲劳厄晶体的X射线摇摆曲线。

从精细抛光的硅晶体获得了非常不对称的晶体衍射，该硅晶体设置为在掠入射的布拉格衍射中反射333反射。通过改变X射线能量从8.100 keV到8.200 keV，实现布拉格衍射的入射角在1.08到0.33°之间变化。识别了表面起伏的影响，并将结果与动态X射线衍射计算进行了比较。

在片层近似下考虑了两个弯曲晶体连续布拉格反射的光学。确定了确保最小摇摆曲线宽度和良好反射效率的最佳曲率。指出了摇摆曲线再现弯曲晶体反射率曲线的条件。针对三种简单的极限情况，导出了摇摆曲线宽度和峰值强度的解析公式。计算得到了弯曲完美硅晶体的实验结果的支持。

提出了一种新的相位确定方法，将FWHM与极性晶体上下表面的摇摆曲线强度进行比较。这种方法对于确定极性晶体的相位，包括近乎完美晶体的相位非常有用。

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