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介绍了一种新的配备位置灵敏探测器的X射线光谱仪测量技术。它基于对弯曲分析仪晶体内应力影响的计算补偿,以提高在不损失强度的情况下测量点样时的能量分辨率。

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通过使用位置敏感探测器,消除了立方尺寸对切块分析仪晶体分辨率的影响。利用基于1m罗兰圆和切块Si(555)分析仪晶体的光谱仪,在9.9keV的光子能量下,获得了23meV的分辨率,布拉格角为88.5°。

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提出了一种处理方法来解释X射线光谱分析用有限尺寸弹性弯曲分析仪晶体的反射率曲线。

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研究了可用于检测约3至20 keV范围内X射线和用于入射光子位置定位的物理过程。一般性地讨论了为特定目的选择探测器的标准。然后考虑了一维和二维探测器的具体例子,特别强调了仍处于开发状态的设备,并试图总结可用探测器的性质、性能和对不同实验的适用性。

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高分子晶体上的X射线数据采集最好以最少的曝光时间和高完整性完成。Fortran过程-分布式控制系统-已在曼德斯在实际数据收集开始之前预测数据完整性的程序。此外,该程序可以检查和完善数据收集策略,并为不同方向的一个或多个晶体建议最佳设置和旋转范围,以在最短曝光时间内实现最高完整性,从而延长晶体的寿命。该方法已在以前收集的数据和新结构上进行了测试。自从该程序在该实验室得到充分使用以来,所收集数据的完整性得到了显著改善。

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利用波长色散x射线光谱仪中位置灵敏探测器的优化窗口宽度,部分荧光产额(PFY)x射线吸收测量已应用于辐射过程解析(RPR)x射线光谱。我们测量了石墨和金刚石在C K阈值和小时-BN和c(c)-BN处于BK阈值。石墨和石墨中观察到共振弹性x射线散射小时-BN的PFY吸收光谱,以及在金刚石和c(c)-BN.编号。这些结果表明,用于RPR x射线吸收光谱的PFY吸收测量可以提供有关电子结构和内壳激发辐射衰减过程的信息。

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在中子蛋白质结晶学中,由现代数据采集系统控制的位置敏感探测器的使用为数据采集策略提供了新方法。而不是处理常规扫描,如θ-2θ扫描,提供作为旋转参数函数的积分强度,计算机连接计数器可用于生成三维反射轮廓。随着水晶的脚步(Δω)通过反射,每个步骤的观测数据存储在外部存储器中,作为2中范围的函数θ和高度()反射。在这个空间中,反射将是三维分布,其尺寸由以下基本几何条件决定:Δλ、晶体尺寸、马赛克扩散、反分辨率和光束准直参数。了解这些基本参数的相互作用,将有助于设计最佳光束光学系统,并能够描绘背景反射,从而准确确定强度。

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应用于分析晶体的温度梯度允许meV分辨率光谱仪的罗兰圆几何形状松弛。

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