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J.同步辐射。
(2012).
19
,
106-113
https://doi.org/10.107/S0909049511039422
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基于X射线拉曼散射的EXAFS超出偶极极限
S.霍塔里
,
T.Pylkkänen公司
,
J.A.大豆蛋白
,
J.J.卡斯
,
K.海梅莱宁
和
G.摩纳哥
描述了X射线拉曼散射中EXAFS振荡的精确测量和分析。
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J.同步辐射。
(2021).
28
,
756-768
https://doi.org/10.107/S160057752100179X
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非共振非弹性X射线散射温度颗粒分析仪
D.石川
和
A.Q.R.男爵
制作并评估了用于25–32meV中等分辨率非共振非弹性X射线散射的温度-颗粒分析仪。
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J.同步辐射。
(2017).
24
,
521-530
https://doi.org/10.107/S1600577516020579
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正常开放
接近
欧洲同步辐射设施ID20处的大角度X射线拉曼散射光谱仪
S.霍塔里
,
C.J.萨赫勒
,
C.亨利奎特
,
A.Al Zein公司
,
K.马特尔
,
西门氏乳杆菌
,
R.Verbeni公司
,
H.冈萨雷斯
,
M.-C.拉吉尔
,
C.蓬切特
,
M.Moretti Sala先生
,
M.Krisch先生
和
G.摩纳哥
描述了欧洲同步辐射设施束线ID20处X射线拉曼散射光谱的终端站,专用于使用非共振非弹性X射线散射研究浅核电子激发。
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J.同步辐射。
(2022).
29
,
1065-1073
https://doi.org/10.107/S1600577522005616
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正常开放
接近
电化学调制微分扩展X射线吸收精细结构的方法
W.Xu先生
,
G.张
,
H.寿
,
J.Zhou(周)
,
S.Chen先生
,
朱棣文
,
J.张
和
L.宋
推导了相敏检测解调与差分光谱之间的定量关系,并用于电化学调制激发X射线吸收光谱的定量分析。
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J.同步辐射。
(2020).
27
,
436-445
https://doi.org/10.1107/S1605575720000752
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扩展X射线吸收精细结构测温的理论发展与实验验证
问:Ye
,
胡彦宏(Y.Hu)
,
十段
,
H.刘
,
H.张
,
C.张
,
L.孙
,
W.杨
,
W.Xu先生
,
Q.蔡
,
Z.Wang(王)
和
江南
介绍了扩展X射线吸收精细结构超快速测温技术的理论发展和实验验证。
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J.同步辐射。
(2016).
23
,
551-559
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:使用有限差分法进行扩展X射线吸收精细结构计算
J.D.布尔克
,
C.T.尚特勒
和
Y.Joly(约利)
一种新的理论方法和计算包,
FDMX公司
描述了X射线吸收精细结构(XAFS)的一般计算。
这是第一个在单个框架内计算整个能量范围内准确XAFS光谱的全势软件包,给出了元素Sn、金红石TiO的光谱示例
2
和氧化铁
6
.
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J.同步辐射。
(2008).
15
,
162-169
https://doi.org/10.107/S0909049508001696
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非共振非弹性X射线散射谱中核心激发的提取算法
H.斯特内曼
,
C.斯特内曼
,
G.T.塞德勒
,
T.T.费斯特
,
A.萨克
和
M.托兰
介绍和演示非共振非弹性X射线散射中核心激发的提取算法。
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J.同步辐射。
(2012).
19
,
503-507
https://doi.org/10.107/S0909049512015646
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用扩展X射线吸收精细结构光谱研究NiAl化合物的局部结构
J.S.田
,
G.M.韩
,
H.魏
,
T·金
和
M.S.达尔古什
利用扩展X射线吸收精细结构光谱技术获得了纯NiAl和Ti、Co掺杂NiAl化合物的局部结构。
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J.同步辐射。
(2021).
28
,
240-246
https://doi.org/10.107/S1600577520015131
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Co–Fe–Si–B薄带局域结构的扩展X射线吸收精细结构光谱研究
A.A.Deshmukh先生
,
A.P.斯利瓦斯塔瓦
,
J.P.辛格
,
M.库马尔
,
K.H.Chae先生
,
K.阿育王
和
U.A.帕利昆德瓦
钴的扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)研究
69
铁
x个
硅
21–
x个
B类
10
(
x个
=3,5,7)在Co上进行的玻璃带
K(K)
-报告边缘。
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J.同步辐射。
(2014).
21
,
561-567
https://doi.org/10.107/S1600577514001970
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多层样品荧光扩展X射线吸收精细结构自吸收效应的校正方法
W.-B.李
,
X.-Y.杨
,
朱振堂(J.-T.Zhu)
,
Y.-C.Tu先生
,
B.-Z.Mu公司
,
H.-S.余
,
X.-J.魏
,
Y.-Y.黄
和
Z.-S.王
提出了一种新的方法来校正单层或多层样品在荧光模式下测量的扩展X射线吸收精细结构的自吸收效应。
通过在不同实验几何形状下测量的Cr/C多层膜的校正光谱,验证了该方法的有效性。
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