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制作并评估了用于25–32meV中等分辨率非共振非弹性X射线散射的温度-颗粒分析仪。

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推导了相敏检测解调与差分光谱之间的定量关系,并用于电化学调制激发X射线吸收光谱的定量分析。

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一种新的理论方法和计算包,FDMX公司描述了X射线吸收精细结构(XAFS)的一般计算。这是第一个在单个框架内计算整个能量范围内准确XAFS光谱的全势软件包,给出了元素Sn、金红石TiO的光谱示例2和氧化铁6.

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利用扩展X射线吸收精细结构光谱技术获得了纯NiAl和Ti、Co掺杂NiAl化合物的局部结构。

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钴的扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)研究69x个21–x个B类10(x个=3,5,7)在Co上进行的玻璃带K(K)-报告边缘。

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提出了一种新的方法来校正单层或多层样品在荧光模式下测量的扩展X射线吸收精细结构的自吸收效应。通过在不同实验几何形状下测量的Cr/C多层膜的校正光谱,验证了该方法的有效性。

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