FDMX公司：使用有限差分法进行扩展X射线吸收精细结构计算

J.D.布尔克,C.T.Chantler公司和Y.Joly（约利）

一种新的理论方法和计算包，FDMX公司描述了X射线吸收精细结构（XAFS）的一般计算。这是第一个在单个框架内计算整个能量范围内准确XAFS光谱的全势软件包，给出了元素Sn、金红石TiO的光谱示例₂和氧化铁₆.

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miXAFS公司：X射线吸收精细结构数据分析程序

H.伊基莫托

miXAFS公司是一个分析X射线吸收精细结构（XAFS）数据的程序。它可以同时分析所有获得的X射线吸收边的XAFS函数，并提供R（右）-相对于两个结构参数的因子。

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PLS-II X射线吸收精细结构技术用锥形波荡器的特性

N.-E.Sung公司,I.-J.李,S.Jeong先生和S.-W.康

介绍了八碳纳米探针/XAFS光束石灰（BL8C）在浦行光源上的真空波动器在平面、锥形和间隙扫描模式下的特性。

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用于X射线吸收精细结构测量的聚晶金刚石微探测器

L.姚明,刘彦（Y.Liu）,B.王,L.Qian先生,X.兴,G.莫,Z.Chen（陈）和Z.Wu先生

研制了一种用于XAFS测量的聚晶金刚石探测器。它的体积是常规离子室的2947倍。

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高能区XAFS

Y.西哈塔,O.Kamishima先生,Y.库博佐诺,H.Maeda先生和S.Emura公司

XAFS（X射线吸收精细结构）光谱在K（K）-Ce（40.5 keV）、Dy（53.8 keV），Ta（67.4 keV）和Pt（78.4 keV。钝器K（K）-观察到由于芯孔寿命有限而产生的边缘跳跃。这使得很难在较低的温度下提取EXAFS（扩展X射线吸收精细结构）函数k个值。局部结构参数可以根据上述EXAFS谱进行评估K（K）-高能区和上述区域的吸收边L（左）_三-边缘。结果发现，如理论预测的那样，芯孔的有限寿命效应被有效地纳入光电子平均自由程项。

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台湾光子源亚秒级分辨率的新型X射线吸收精细结构光束线

C.-W.Pao公司,J.-L.陈,J.-F.李,M.-C.蔡,C.-Y.黄,C.-C.Chiu,C.-Y.Chang,L.-C.蒋介石和Y.-S.黄

介绍了台湾光子源的新型TPS 44A光束线。光束线配备了一个新的快速扫描单色仪（Q-Mono），可以为XAFS光谱实验（包括XANES和EXAFS光谱测量）提供常规的分步扫描和实时扫描。

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XAFS理论的发展

A.L.安库迪诺夫和J.J.雷尔

介绍了XAFS理论的发展。

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Ni-Mn合金的磁性X射线吸收精细结构

T.米亚纳加,T.冈崎,R.Maruko（马鲁科）,K.武原,南长松,T.藤川,香港和Y.萨基萨卡

测量并分析了Ni-Mn合金的X射线磁吸收精细结构谱。

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弯晶劳厄分析仪结合全反射荧光X射线吸收精细结构（BCLA+TRF-XAFS）及其在表面研究中的应用

Y.Wakisaka（瓦基萨卡）,B.胡,D.基多,M.H.Al Rashid先生,W.Chen先生,K·东,T.瓦达,B.巴拉特,Q.袁,S.穆凯,Y.Takeichi先生,S.Takakusagi公司和K.浅仓

弯曲晶体Laue分析仪与全反射荧光X射线吸收精细结构相结合是一种很有前途的技术就地即使在溶液存在的情况下，高度分散体系的表面分析。

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单晶的X射线吸收精细结构

C.T.Chantler公司,C.Q.Tran公司和Z.巴纳

本文介绍了一种从完美晶体中收集X射线吸收精细结构的技术，该技术没有大的系统误差。

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