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X射线辐照剂量的计算是从第一原理发展而来的。对于依赖于光子能量和时间的吸收,以及依赖于时间的样品质量,可以公式化剂量积分。评估了精确、近似和渐近表达式,并将其应用于扫描透射软X射线显微镜辐射损伤实验。

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探讨了低温试样条件对减少软X射线辐射损伤的有效性。低温条件可防止质量损失,但使用氧X射线吸收近边结构或聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)上的XANES测量时,化学键损失的影响较小。

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量化X射线传输测量中的误差源,为高阶抑制的最佳样品厚度和光束线配置问题提供了客观指导。

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用扫描透射X射线显微镜(STXM)测定了亚微米双区晶体中羰基和苯基的取向。STXM数据通过使用从较大晶体获得的单晶X射线结构得到确认。

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提出了一种用于扫描透射X射线显微术(STXM)的S形运动轨迹双向扫描方法。这项工作消除了电机侧隙和振动对双向扫描的限制,显著提高了STXM实验的效率。

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证明了一种多模光谱成像技术,可以同时采集软X射线透射和X射线激发的光学发光。菲涅耳波带片的使用确保了相关光谱图像的横向分辨率约为40 nm。

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提出了一种当X射线辐照改变材料物理性能时,计算材料X射线辐照吸收剂量的通用方法。该方法考虑了X射线辐照改变化学结构、辐照区域内材料数量、线性吸收系数和材料密度的情况。

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