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用原子力显微镜(AFM)研究了LAP晶体{100}面的表面形貌。台阶和二维核都沿着b条方向,由晶体结构决定。

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用原子力显微镜观察了EAFP蛋白晶体快速生长的表面形貌和动力学特性。讨论了与快速生长有关的特征模式。

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结合原子力显微镜(AFM)和X射线衍射实验,研究了杂质掺入、晶体表面形貌和晶体质量之间的关系。蛋清溶菌酶被用作模型蛋白,共价结合溶菌酶二聚体被用作模型杂质。AFM对{101}晶面的观察表明,当杂质含量为5%时,晶体表面明显变得粗糙,当杂质浓度增加到10%时,台阶消失。晶体质量通过四个因素进行评估:最大分辨率极限、,/〈σ〉,R(右)合并,和总体B类因素。在各指标中,随着杂质浓度的增加,晶体质量趋于下降。这个B类-杂质含量为5%时因子显著下降;同时观察到台阶粗化现象。这强烈表明杂质的掺入影响了阶梯生长机制并降低了晶体质量。

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使用原子力显微镜(AFM)对大分子晶体生长进行直接可视化,为描述生长过程的机理和动力学提供了强有力的工具。它进一步使我们能够评估蛋白质、核酸和病毒晶体中的各种杂质。使用AFM可以对影响这些晶体的缺陷和不完美、毒害其表面的杂质层以及各种因素对形态发展的影响进行成像。所有这些都可以在正常生长条件下,在天然母液中,在几分钟到几天的时间间隔内,在分子水平上进行记录。

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具有重要技术意义的大型单向单晶L(左)-最近发明的Sankaranarayanan–Ramasamy方法首次生长出一水精氨酸磷酸酯。对结晶完整性、机械和介电性能进行了评估和关联。

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用原子力显微镜(AFM)研究了ZCTC晶体棱镜{100}面的表面形貌和缺陷形成。

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原子力显微镜(AFM)可用于研究大分子晶体的生长就地,并推导该过程的机械、动力学和现象学特性。

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用原子力显微镜研究了硫氰酸锰汞晶体{110}面的生长机理和缺陷形成。位错控制机制和二维成核机制在生长过程中同时操作。

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采用原子力显微镜和同步辐射X射线晶体学系统地研究了过饱和度与蛋黄白溶菌酶晶体质量的关系。

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