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非晶相不会相干衍射,但如果过高估计添加到样品中的适当晶体标准,则可以以接近1%的精度测量非晶含量。

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提出了一种Rietveld–PONKCS(部分或未知晶体结构)技术,用于测定波特兰水泥-SCM混合物中主要为非晶态辅助胶凝材料(SCM)的重量百分比。

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提出了一种确定参数添加到Rietveld精化中的顺序的方法。

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本文强调了通过补充方法彻底表征商业产品的重要性。此类产品中杂质的存在可能成为物理和化学特性研究中不可忽略的参数。

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采用高能同步辐射X射线粉末衍射技术评估了使用实验室X射线粉末绕射对人造标准硅酸盐水泥混合物进行Rietveld定量矿物学分析的准确性。

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描述了使用“参数Rietveld细化”从大量粉末衍射图案中提取信息的方法,该方法使用单一的演化结构模型。

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采用高能X射线衍射层析成像和Rietveld细化技术重建骨模型中羟基磷灰石粉末之间的定量差异。

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Rietveld细化基于就地利用同步辐射X射线粉末衍射数据,结合热重分析和质谱,研究和比较了初始层状双氢氧化物及其分解氧化物的微观结构和结构变化。

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本研究旨在解决任何晶体物质的位置精确度问题,表明结构细化结果不应局限于简单描述晶体几何形状,而应超越此,提供与化学数据一致的精确位置散射值。

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