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本文描述了蒙特卡罗工具的开发和应用,以提高多晶体中子成像的量化能力。建模和实验相结合,可以更好地理解来自多晶样品的散射如何影响中子成像实验。

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提出并应用了一种方法,该方法能够从小角度散射模式中检索具有不确定性的无定形粒度分布。特别注意散射模式中粒子的可观测性、数据不确定性的准确估计以及不确定性对结果粒度分布统计的影响。

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本文讨论了相位控制效应,并比较了基于不同理论框架的两种仿真方法。它证明了使用众所周知的模拟框架在实验数据中再现相位效应的能力麦克斯塔斯[Willendrup&Lefmann(2020)。J.中子研究。 22, 1–16].

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本文演示了如何使用常规小角度中子散射仪器进行中子成像。

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中子成像为就地演示了晶体生长过程中显微结构特征的远程诊断,即使材料和周围结构对其他更传统的询问技术是不透明的。中子射线照相术用于远程成像元素分布的均匀性(例如掺杂浓度)、液/固界面位置和宏观晶体缺陷的存在(例如裂纹),时间分辨率为5–7第条。

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将波动光学与蒙特卡罗方法相结合,开发了一个用于相敏X射线成像数值模拟的框架。

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描述了厚包层硅片非色散成像的实验测试结果,并与蒙特卡罗模拟进行了比较。

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现场为了利用时间和实际空间分辨率对氘吸收过程进行结构分析,研制了飞行时间中子全散射实验中二维探测器的气载样品架。

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新型中子成像技术利用衍射、相位和磁对比度对材料进行表征。柏林Helmholtz-Zentrum核电站最近升级的中子成像仪器(CONRAD-2)结合出色的空间分辨率,提供了全套创新技术。

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