Y的结构和磁性_三（镓铝铁）₅O（运行）₁₂低铁磁谐振损耗的液相外延薄膜

Y（Y）_三（镓铝铁）₅O（运行）₁₂采用液相外延法在钆镓石榴石衬底上制备了具有低饱和磁化强度的单晶石榴石薄膜（厚度为200nm）。随着生长温度的变化，对薄膜的应力状态和元素组成进行了分析和计算。

c（c）-定向YBa₂铜_三O（运行）_7−δ嵌入的胶片一-微调过饱和度下液相外延生长取向晶粒

复合外延微结构c（c）-轴向YBa₂铜_三O（运行）_7−δ嵌入的胶片一-（110）NdGaO上的轴晶粒_三采用液相外延法成功地生长了衬底。

在不稳定的Y-Ba-Cu-O溶液发生均匀形核突变后，实现了超低过饱和度，并成功应用于生长纯一-YBa轴₂铜_三O（运行）_年（110）NdGaO上的液相外延膜_三基底。

成功测量了复杂双频红外探测器中使用的极低晶格失配HgCdTe/CdZnTe多层叠层中的应变分布，所需的应变分辨率为10⁻⁵结合化学敏感技术，该方法可以关联晶格失配、界面成分梯度和应变，同时隔离特定层的贡献。

利用劳厄微衍射与能量测量相结合的方法，确定了与粗晶镍基高温合金中γ和γ′相有关的全弹性应变张量。研究了平均沉淀尺寸为200或2000 nm的模型微观结构。

基于微磁学的连续介质理论，计算并讨论了体铁磁体自旋排列小角中子散射截面的相关函数。

有限X射线和截面形貌已被用于表征硼掺杂同质外延膜和高压高温1b（001）金刚石衬底中的缺陷。晶格失配在界面处产生两个正交的失配位错系统，以半环的形式从界面缺陷传播，特别是螺纹位错和生长扇区边界。

报道了单晶镝（Dy）增强波动器性能的实验结果。

描述了一种新的单色X射线布拉格衍射成像方法，用于揭示CdZnTe衬底上HgCdTe外延层中的相关缺陷和毫米级畸变。

利用二维布拉格衍射和扫描X射线衍射研究了应变异质结构纳米线。

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