迈向标准化的一步：发展X射线吸收和荧光的精确测量

提高XAFS测量精度的背景和方法，朝向数据沉积和理论发展。

二茂铁的立体化学分析及荧光XAFS数据的不确定性

对二茂铁氦冷荧光XAFS数据的立体化学进行了分析，研究了典型数据集的不确定性和信息含量。

提出了一种新的方法来校正单层或多层样品在荧光模式下测量的扩展X射线吸收精细结构的自吸收效应。通过在不同实验几何形状下测量的Cr/C多层膜的校正光谱，验证了该方法的有效性。

本文提出了一种新的技术，利用吸收和相位对比度之间的Kramers–Kronig关系，从光谱反射术中减少的测量能量点恢复光谱结构。从计算模型和光谱ptychography实验数据中成功地证明了该算法对扩展X射线吸收精细结构的光谱恢复。

研制了一种用于XAFS测量的聚晶金刚石探测器。它的体积是常规离子琥珀的2947倍。

推导了相敏检测解调与差分光谱之间的定量关系，并用于电化学调制激发X射线吸收光谱的定量分析。

弯晶劳厄分析仪结合全反射荧光X射线吸收精细结构是一种很有前途的就地即使在溶液存在的情况下，高度分散体系的表面分析。

miXAFS公司是一个分析X射线吸收精细结构（XAFS）数据的程序。它可以同时分析所有获得的X射线吸收边的XAFS函数，并提供R（右）-两个结构参数的系数。

本文介绍了一种从完美晶体中收集X射线吸收精细结构的技术，该技术没有大的系统误差。

使用X射线吸收光谱电化学池收集近生理条件下N-截短的Cu:Aβ淀粉样蛋白（Cu:Aβ）样品的高质量X射线吸收光谱测量值。Aβ中铜结合位点的几何结构_4–8/12/16并测定了这些肽以可能对人脑产生毒性的方式进行氧化还原循环的能力。

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