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采用分子束外延三步法在Ag(001)上外延生长了约4nm厚的钴铁氧体薄膜。他们的尖晶石结构由就地掠入射X射线衍射。本研究的重点是定量测定铁氧体结构中的反转,这是决定其作为自旋滤波器性能的关键参数。这是通过采用一种应用于超薄薄膜的创新技术——共振X射线衍射来解决的。

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多畴铁电体KTiOPO绝对晶体结构的识别和高分辨率映射4是通过一种新型同步辐射X射线衍射方法实现的。在单个Bragg反射上,Ti吸收下面和上面的共振衍射强度比K(K)edge展示了高达~270倍的域对比度,从而实现了一种具有微米空间分辨率的非接触、无损成像技术,适用于任意大尺寸的样本。

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本文介绍了一组结晶度极高的立方钴铁氧体纳米颗粒,通过均匀磁化揭示了这一点,而通过磁性小角中子散射观察到的近表面自旋无序可以忽略不计。

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三束劳厄-劳厄传输测量K(K)-对一个微小的有缺陷锗晶体的吸收边进行了研究。这些表明,在解释ψ剖面时,负责相干干涉的晶体介质的表观尺寸是最重要的数量。一些证据表明(f)'与列表中的值相比,接近边缘的值。

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提出了两种确定二维探测器测量的表面衍射棒结构因子的积分方法。给出了一个理论框架,并对各种积分方法进行了比较。

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双筒望远镜是一种用于数据简化和分析大型表面衍射数据集的工具,这些数据集是通过二维X射线探测器获得的。

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描述了一种聚类算法,并将其应用于自动提取面积检测器采集的表面X射线衍射数据。概述了一种利用区域探测器的全场测量弱散射或漫散射的方法。结合使用这些方法,可以提高结构解决方案的可靠性和交付周期。

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