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J.同步辐射。
(1998).
5
,
820-822
https://doi.org/10.107/S0909049597035607
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高分子晶体学毛细管浓缩器的射线追踪分析
D.J.蒂尔
评估了毛细管聚光器作为X射线聚光器的使用，特别是用于同步辐射的大分子X射线衍射实验。
单毛细管和多毛细管设计通过射线追踪分析进行评估，以评估这些毛细管浓缩器如何有效地增加50µm晶体上的X射线强度。
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J.同步辐射。
（2004年）。
11
,
157-162
https://doi.org/10.1107/S009049503023343
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衍射-折射X射线光学的光线追踪分析
N.阿特米耶夫
,
J.赫迪
,
S.佩雷德科夫
和
A.阿特梅夫
讨论了失谐矢状衍射-折射X射线透镜的光线跟踪模拟、其特征像差以及对其组件相互失调的敏感性。
对两种不同源类型的理想抛物线型和圆柱形DRXL进行了比较分析。
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J.同步辐射。
(2024).
31
,
10-16
https://doi.org/10.107/S1600577523009566
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正常开放
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一种厚度线性变化的有源压电平面X射线聚焦镜
N·田
,
H.江
,
谢家杰（J.Xie）
,
S.Yan先生
,
D.梁
和
Z.Jiang先生
提出了一种厚度线性变化的有源压电平面X射线聚焦镜。
测量了样机的聚焦性能，获得了单微米聚焦结果。
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J.应用。
克里斯特。
(2017).
50
,
1104-1116
https://doi.org/10.107/S1600576717009736
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双弯曲晶体的X射线聚焦特性
G.阿斯卡里·格尔米
,
S.J.佩斯荷
和
A.拉斯特卡尔·易卜拉欣扎德
研究了十种传统双弯晶体几何结构的X射线聚焦特性。
导出了矢状和经向图像位置的一般关系。
研究了传统晶体几何在任意位置探测器平面上生成的图像的特征。
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J.同步辐射。
(2015).
22
,
16-22
https://doi.org/10.107/S1600577514020451
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连续可变透镜X射线聚焦方案
B.W.亚当斯
和
C.玫瑰色
提出了一种透镜焦距连续可变的混合柱透镜矢状镜X射线聚焦方案。
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J.同步辐射。
(2019).
26
,
1208-1212年
https://doi.org/10.107/S1600577519005708
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基于CRL的超紧凑型X射线聚焦和显微镜转换器
A.纳里科维奇
,
M.波利卡波夫
,
A.巴拉尼科夫
,
N.克里莫瓦
,
A.卢什尼科夫
,
I.莱亚顿
,
G.布伦科夫
,
D.兹维列夫
,
I.帕诺莫夫
,
A.西尼琴
,
I.斯尼吉列娃
和
A.斯尼吉列夫
提出了一种用于X射线聚焦和显微成像的新型超小型变换器。
该装置可以通过独立地逐个移动单个抛物线X射线折射透镜来改变单聚焦和二维聚焦复合折射透镜的数量，从而为广泛的应用提供永久能量和焦距可调性。
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J.同步辐射。
(2021).
28
,
741-755
https://doi.org/10.107/S1600577521001880
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折射光学硬X射线聚焦成像的高精度计算
P.沃伊达
,
S.Kshevetskii公司
和
I.利亚顿
开发并提出了一种数学装置，用于解决X射线波在复杂光学系统中的传播问题，即透镜厚度可以随着跳跃而变化。
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J.同步辐射。
(2023).
30
,
208-216
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EuXFEL高能密度仪折射X射线聚焦的直接LiF成像诊断
S.马卡洛夫
,
马基塔先生
,
M.Nakatsusumi先生
,
T.皮库兹
,
N.小崎
,
T.R.普雷斯顿
,
K.阿佩尔
,
Z.科诺普科娃
,
V.塞兰托拉
,
E.布兰布林
,
J.-P.施文肯多夫
,
一、莫哈西
,
T.布里安
,
J.查洛普斯基
,
V.哈伊科娃
,
L.朱哈
,
V.沃兹达
,
B.纳格勒
,
尤·扎斯特劳
和
S.皮库兹
通过将高动态范围荧光LiF介质直接置于光束焦散线中，对欧洲XFEL高能密度仪器上X射线自由电子激光束的聚焦能力进行了成像和研究。
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J.应用。
克里斯特。
(2007).
40
,
193-195
https://doi.org/10.107/S0021889806044505
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用于溶液小角度X射线散射的聚焦毛细管光学
J.S.兰姆
,
S.Cornaby公司
,
K.安德森
,
郭台铭（L.Kwok）
,
H.Y.公园
,
十、邱
,
D.-M.微笑
,
D.H.Bilderback先生
和
L.波拉克
介绍了在不损失分辨率的情况下，单反弹X射线聚焦毛细管小角度X射线散射测量在蛋白质上的成功应用。
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J.应用。
克里斯特。
(2024).
57
,
649-658
https://doi.org/10.107/S1600576724002243
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接近
基于断层重建的X射线晶体学射线追踪分析吸收校正
Y.Lu先生
,
R.杜曼
,
J.拜尔斯滕·埃德曼德
,
G.冬季
,
M.巴沙姆
,
G.埃文斯
,
J.J.A.G.坎普斯
,
A.M.奥维尔
,
H.-S.Kwong先生
,
K.Beis公司
,
W.铠装
和
A.瓦格纳
提出了一种用于X射线晶体学分析吸收校正的基于层析的射线追踪方法。
长波长大分子晶体学实验的几个例子证明了这种新方法的有效性。
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