${\bb Z}$ -晶体中的模缺陷

晶体中的原子和单胞位于 ${\bb Z}$ -模块，即关于的三维投影N个-维度晶格。这些缺陷是由于结构从N个到三维。举例说明了这些过程。预计会出现一种新的位错，这里称为“标量位错”；它不会产生变形，也不会与应力场发生相互作用。

由二十面体的四维对应物确定聚合物和封闭金属晶体中的非晶体螺旋

提出了一类特殊的50轴，用于描述聚合物、生物聚合物和紧密堆积金属中非晶螺旋的分数螺旋轴。这一类是由四维{3,3,5}多面体螺旋的子结构及其导数结构决定的。

本文描述了对 $｛\b Z｝$ -通过高分辨率电子显微镜（HREM）、扫描透射电子显微镜明场（STEM-BF）和高角度环形暗场（STEM-HAADF）研究了NiZr中的模缺陷（孪晶、平移断层和模位错）。

用蒙特卡罗方法计算了由两条穿线臂从错位段延伸到表面的错位半环的X射线衍射。

从X射线形貌图上清晰的等厚条纹可以看出，尽管葡萄糖异构酶晶体的整体晶体质量很高，但其亚晶粒中仍存在大量的局部应变。通过控制亚晶粒中的局部应变，可以提高蛋白质晶体亚晶粒的抗辐射损伤能力，从而能够收集高衍射的X射线衍射数据集。

介绍了一种实验室X射线形貌技术。这种技术的优点之一是，它可以用来观察具有非常明显表面轮廓的非抛光和非平面晶体中的位错。

利用数字X射线形貌术拍摄的重建形貌图像，对蛋白质单晶中生长的位错进行了表征。

三元系中2/1和1/1准晶近似的原子结构R（右）-镉-镁(R（右）=Y，Er）系统通过X射线结构分析揭示。

提出了一种X射线显微术来绘制深度嵌入位错的方法，其分辨率目前为200 nm。该技术包括扫描后焦平面上的一个孔径，从而可以以高于10的应变分辨率可视化位错周围的应变场⁻⁴.

探测器图像的正向投影分别使用基于几何光学和波前传播的两种互补模拟工具生成。根据不同的仪器设置、扫描模式、畴壁中的位错密度和空间分辨率，阐明了观察畴壁位错的可行性。

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