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克里斯特。
(2010).
43
,
1124-1125
https://doi.org/10.107/S0021889810021199
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圆柱体吸收修正计算的效率
T.艾达
对气缸吸收修正计算的效率进行了检验。
将高斯-勒让德求积应用于托基尔森和拉森提出的公式,得到的结果相对误差≤10
−6
在数值积分中有12×12项。
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《水晶学报》。
(1976).
A类
32
,
641-648
https://doi.org/10.107/S0567739476001332
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样品几何形状对测定球体和圆柱体X射线吸收校正因子的影响
P.A.风暴
描述了一种确定球形和圆柱形试样吸收修正系数的简单数值方法。
这两种样品衍射峰的线轮廓的构造说明了这类所有数值方法固有的误差来源。
球形和圆柱形试样的线轮廓差异,尤其是线位移,可能会影响精确晶格参数测定所需的试样几何形状选择。
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J.应用。
克里斯特。
(2024).
57
,
649-658
https://doi.org/10.107/S1600576724002243
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基于层析重建的X射线晶体追踪分析吸收校正
Y.Lu先生
,
R.杜曼
,
J.拜尔斯滕·埃德曼德
,
G.冬季
,
M.巴沙姆
,
G.埃文斯
,
J.J.A.G.坎普斯
,
A.M.奥维尔
,
H.-S.Kwong先生
,
K.Beis公司
,
W.铠装
和
A.瓦格纳
提出了一种用于X射线晶体学分析吸收校正的基于层析的射线追踪方法。
来自长波长高分子晶体学实验的几个例子证明了这种新方法的有效性。
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《水晶学报》。
(1967).
22
,
601-602
https://doi.org/10.107/S0365110X67001197
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晶体结构分析中吸收修正的分析方法与数值方法的比较
P.铜笔
,
J.de Meulenaer先生
和
H.汤帕
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J.应用。
克里斯特。
(2010).
43
,
693-698
https://doi.org/10.107/S0021889810021114
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圆柱形和环形试样及其容器或支架的吸收校正
M.鲍登
和
M.瑞恩
计算入射和衍射光束路径长度的公式已用于计算一系列圆柱形几何体的吸收校正。
显示了用于容纳圆柱形试样的毛细管或用于支撑环形试样的芯中的吸收改变了这种校正的程度。
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《水晶学报》。
(1975).
A类
31
,
146-148
https://doi.org/10.107/S056773947500253
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圆柱体X射线吸收校正系数的快速计算,精确到0.1%
小C.W.Dwiggins
精确的X射线吸收校正系数
A类
*对于圆柱形样品,在线性吸收系数乘积的范围内进行计算
μ
和圆柱体半径
R(右)
0≤
μR(微R)
≤2.5且在布拉格角范围内
θ
0°≤0≤90°。
与通常使用的方法不同的双数值积分方法的最大误差为0.1%,而典型误差要小得多。
的值表
A类
*并获得了简单的方程,用于在表中的值之间进行插值,精度为0.1%或更高。
当许多值为
A类
*必须针对单个样本进行计算。
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J.应用。
克里斯特。
(2015).
48
,
1870-1882
https://doi.org/10.107/S1600576715018452
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环境参数变化对X射线束强度的影响:与时间相关的吸收校正
T.威格尔
,
T.雷赛刚
,
M.Zschornak先生
,
M.Herrmann先生
,
M.罗森伯格
,
A.Wünsche公司
,
H.Stöcker先生
和
D.C.梅耶
环境条件的变化对X射线主束强度有着重要的影响。
提出了气压、湿度和温度与X射线强度的相关性以及提高强度稳定性的校正方法。
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克里斯特。
(2008).
41
,
729-737
https://doi.org/10.107/S0021889808011898
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基于视觉图像三维模型重建的吸收校正
R.M.F.利尔
,
S.C.M.Teixeira公司
,
V.雷伊
,
V.T.福赛斯
和
E.P.米切尔
开发了一种新的方法,用于对大分子晶体X射线衍射数据进行吸收校正。
该方法使用以摄影方式生成的三维晶体模型,从而可以可靠地确定穿过晶体、溶剂和晶体安装系统的路径长度。
用这种方法记录和处理了低入射光束能量下胰岛素晶体的数据。
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克里斯特。
(2003年)。
36
,
1225-1229年
https://doi.org/10.107/S002188980301447X
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中子光谱仪的扫描剖面图。
三、 数值方法的矩形保护单元
L.D.库森
和
A.R.王尔德
数值测试使用
麦克斯塔斯
结果表明,如果使用得当,反射中子准直器在粉末衍射仪上的强度可以达到双峰以上,而且不需要分辨率成本。
测试证实了接受图法的有效性,结果应适用于X射线或电子散射的类似装置。
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《水晶学报》。
(2012).
A类
68
,
778-779
https://doi.org/10.107/S0108767312039505
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吸收校正
A类
*适用于通过Thorkildsen和Larsen分析方法计算的大范围和高精度的圆柱形和球形样品
胡锦涛
,
C.杨
和
K.赵
吸收校正
A类
*对于0≤μ的扩展范围内的圆柱形和球形样品
R(右)
≤30和0≤θ≤90°,并采用Thorkildsen和Larsen分析方法进行高精度计算。
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