在对测试数据集进行数据简化后计算的指标可用于估计高分子X射线源的（系统）仪器误差。指示器的数值为最高信噪比[我/σ(我)]实验装置可以产生的值及其倒数与合并下限有关R（右）因素。在本研究中，实验装置的稳定性受到X射线束、快门、测角仪、低温流和探测器的特性以及曝光时间和主轴转速的影响和表征。针对JCSG档案中的数据集，给出了指标的典型值。借助于使用SIM_MX（SIM_MX）[Diederichs（2009），《水晶学报》。D类65, 535–542]. 一个结论是，低分辨率数据的准确性通常受到实验装置而不是晶体的限制。还表明，通过降低主轴转速并伴随较强的衰减，可以减轻振动和波动的影响。
