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J.应用。
克里斯特。
(2018).
51
,
854-866
https://doi.org/10.107/S1600576718006064
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用总散射法测定中子散射长度
A.C.汉农
,
A.S.吉布斯
和
H.高木
报道了一种测量束缚相干中子散射长度的新方法。
结果表明,中子散射长度的相对测量,
通过分析合适的氧化物晶体粉末的中子相关函数,可以得到元素的中子关联函数。
对于这种分析,必须考虑到平均密度对相关函数的贡献,以及晶体中原子之间距离的贡献。
通过分析刚玉型铝的中子相关函数,验证了该方法
2
O(运行)
三
,生成一个值
Al=3.44(1)fm,与文献一致。
然后将该方法应用于铱同位素,其中散射长度的值未知,并且由于中子吸收的横截面较大,很难用其他方法进行研究。
锶样品的中子相关函数
2
IrO公司
4
富集于
193
Ir用于确定值
=9.71(18)fm和
=12.1(9)fm
193
Ir和
191
这些值与天然铱的表列散射长度和横截面一致。这些值对于通过使用富集于
193
Ir,因此严重的吸收问题与
191
避免使用Ir。
同位素富集锶中子衍射图样的Rietveld精化
2
IrO公司
4
用于得出Ir的类似结果。然而,在实践中,由于拟合参数之间的相关性,Rietveld结果的可靠性较差。
关键词:
总散射
;
中子衍射
;
散射长度
;
相关函数
;
铱酸盐
。
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