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《水晶学报》。
(1962).
15
,
1292-1301
https://doi.org/10.107/S0365110X62003382
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用薄膜粉末法测定精确的晶格参数。
一、似然比法
K.E.Beu先生
,
F.J.穆西尔
和
D.R.惠特尼
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