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研究论文
J.应用。
克里斯特。
(2020).
53
,
1310-1320
https://doi.org/10.107/S1600576720011516
X射线衍射揭示了极度弯曲的单根纳米线的应变量和均匀性
A.达夫蒂安
,
D.克里格纳
,
V.霍尔
,
A.阿尔哈桑
,
R·B·刘易斯
,
S.McDermott公司
,
L.Geelhaar先生
,
D.巴赫拉米
,
T.安朱
,
Z.Ren先生
,
C.里希特
,
D.诺维科夫
,
J.米勒
,
B.布茨
和
U.Pietsch公司
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