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发现9处Yager,K.G.引文。
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雅格,K.G。
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J.应用。
克里斯特。
(2017).
50
,
805-819
https://doi.org/10.107/S1600576717003946
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用于细观结构研究的稳健X射线角关联
J.R.勒米特
,
C.田
,
A.斯坦因
,
A.拉赫曼
,
Y.Zhang(张)
,
L.威加特
,
A.Fluerasu公司
,
O.帮派
和
K.G.Yager公司
研究了X射线角相关分析方法的理论局限性和实验挑战。
利用模拟数据和利用光刻和自组装制备的具有挑战性的介观星团样品的测量结果,探索了主要的实验挑战。
背景散射、数据掩蔽和物体间干扰是主要挑战。
提出了克服相关伪影的策略。
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IUCrJ大学
(2017).
4
,
604-613
https://doi.org/10.107/S2052252517008107
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细观结构X射线散射的相干放大
J.R.勒米特
,
A.斯坦因
,
C.田
,
Y.Zhang(张)
,
L.威加特
,
A.Fluerasu公司
,
O.帮派
和
K.G.Yager公司
提出了一种新的技术,允许在高背景环境下测量弱散射样品。
样品和纳米制造的“放大器”结构之间的相干干扰会产生强干扰散射图案,可以使用角度相关函数对其进行分析,以重建样品的对称性。
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IUCrJ大学
(2018).
5
,
737-752
https://doi.org/10.107/S2052252518012058
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展开GISAXS数据
J.刘
和
K.G.Yager公司
掠入射X射线散射(GISAXS)图像包含折射和多次散射引起的畸变。提出了一种新的计算去噪方法。
对实验数据进行迭代拟合,以重建真实的底层互易空间散射的估计。
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IUCrJ大学
(2017).
4
,
455-465
https://doi.org/10.107/S2052252517006212
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修复X射线散射图像
J.刘
,
J·勒米特
,
Y.Tian先生
,
Z.Zhang先生
,
D.余
和
K.G.Yager公司
提出了一种修复X射线散射图像的新方法,允许填充图像中的间隙并将图像扩展到原始探测器曝光的边界之外。
该方法利用对称性分析重构样本结构,并基于该自动确定的对称模型填充互易空间的未测量区域。
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J.应用。
克里斯特。
(2013).
46
,
165-172
https://doi.org/10.107/S0021889812047887
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掠入射透射X射线散射:玻恩近似下的表面散射
十、鲁
,
K.G.Yager公司
,
D.约翰斯顿
,
C.T.黑色
和
B.M.Ocko先生
介绍了一种新的散射几何,掠入射透射小角度X射线散射。
在这种几何形状下,入射光束的掠射角远高于临界角,散射光束通过衬底边缘退出。
此几何体验证了Born近似。
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《水晶学报》。
(2017).
一个
73
,
a82条
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用同步加速器GISAXS研究嵌段共聚物的激光定向自组装
P.W.马杰夫斯基
和
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J.同步辐射。
(2018).
25
,
1261-1270
https://doi.org/10.107/S1600577518005787
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西康
:数据可视化和分析的通用界面
R.J.潘多尔菲
,
D.B.艾伦
,
E.阿伦霍尔兹
,
巴罗佐-卢克
,
S.I.坎贝尔
,
T.A.卡斯维尔
,
A.布莱尔
,
F.迪卡洛
,
S.Fackler公司
,
A.P.福尼尔
,
G.弗雷切特
,
M.Fukuto先生
,
D.Gürsoy先生
,
Z.Jiang先生
,
H.克里希南
,
D.库马尔
,
R.J.克莱恩
,
R.李
,
C.利曼
,
S.马尔切西尼
,
A.梅塔
,
A.T.N'Diaye公司
,
D.Y.帕金森
,
H.公园
,
L.A.Pellouchoud公司
,
T.珀西亚诺
,
F.任
,
S.Sahoo公司
,
J.斯特扎尔卡
,
D.周日
,
C.J.塔松
,
D.乌西齐马
,
S.Venkatakrishnan公司
,
K.G.Yager公司
,
P.兹瓦特
,
J.A.塞提安
和
A.Hexemer公司
西康
是一个用于同步加速器数据分析、管理和可视化的图形环境。
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J.应用。
克里斯特。
(2014年)。
47
,
第118页至第129页
https://doi.org/10.107/S160057671302832X
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任意纳米物体的周期晶格:自组装系统的建模和应用
K.G.Yager公司
,
Y.Zhang(张)
,
F.鲁
和
O.帮派
描述了一种针对纳米物体周期晶格优化的散射形式。
这种形式允许任意各向异性纳米颗粒组装成均匀或异质超晶格。
考虑了各种无序,可以对纳米超晶格的实验数据进行详细拟合。
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克里斯特。
(2014年)。
47
,
1855年-1865年
https://doi.org/10.107/S1600576714020822
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颗粒度指标:散射环不均匀性对颗粒数的稳健量化
K.G.Yager公司
和
P.W.马杰夫斯基
描述了一种量化X射线散射环非均匀性的新的直接方法。
所得指标可用于评估散射体积内的晶粒数量,因此可用于估计晶粒大小或结晶度。
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