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托里，M。
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J.同步辐射。
（2021）。
28
,
1090-1099
https://doi.org/10.107/S1600577521004021
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正常开放
接近
粉末X射线线性二色性定量的软X射线纳米光谱法
S.Hageraats公司
,
M.Thoury先生
,
S.斯坦内斯库
和
K.基恩
显示了如何分析粉末（粒径～200 nm）的软X射线纳米光谱图，以定量检索X射线线性二色性（XLD）参数。
描述了一种计算建模过程，该过程可与蒙特卡罗模拟结合使用，以证明不同样本之间XLD参数的统计差异。
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J.同步辐射。
（2021）。
28
,
1858-1864
https://doi.org/10.107/S1600577521009450
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接近
结合X射线激发光致发光和X射线吸收光谱进行纳米级相关成像
S.Hageraats公司
,
K.基恩
,
S.斯坦内斯库
,
J.-M.劳伦特
,
W.Fresquet公司
和
M.Thoury先生
演示了一种多峰光谱成像技术，该技术允许同时获取软X射线透射和X射线激发的光学发光。
菲涅耳波带片的使用确保了相关光谱图像的横向分辨率约为40 nm。
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