使用实验室和同步辐射源的单色计算机显微断层扫描和X射线荧光分析，用于全面分析骨骼结构变化

A.布兹马科夫,M.丘卡利纳,D.尼古拉耶夫,V.古里莫娃,S.萨维利耶夫,E.特雷申科,A.塞雷金,R.塞宁,D.佐洛托夫,V.普鲁恩,G.谢弗和V.阿萨奇科夫

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利用X射线全外反射荧光技术，检测了水面富金属有机单分子层的倏逝波/X射线驻波模式对荧光产额的角度依赖性。理论研究表明，分子单层中的电场强度完全由每一分子的面积值决定，该值可以从压力-面积等温线获得。这允许从相应的荧光角度依赖性获得单层内的离子位置。该技术的可能性已用于SR束线ID10B（ESRF），以表征在空气/水界面上形成的酞菁和环状聚有机硅氧烷的Langmuir单层。

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使用实验室和同步辐射源的单色计算机显微断层扫描和X射线荧光分析，用于全面分析骨骼结构变化

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NRC Kurchatov研究所文化遗产对象的综合研究

退火过程中AlPdRe准晶薄膜形成的结构表征

库尔查托夫同步辐射和纳米技术中心的同步加速器“朗缪尔”站

TR-XSW技术研究固体和液体表面的有机单层和脂蛋白纳米结构

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