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奥尔特加，L。

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ID32 ESRF波荡器束线TXRF对硅片表面的微量元素分析

利用第三代同步辐射波荡源，将同步辐射全反射X射线荧光（SR-TXRF）应用于硅片杂质分析。17 fg（1.7×10）镍原子的可探测下限⁸原子厘米^-2)已通过基于Si（111）双晶单色器和水平样品几何结构的光学装置实现。这些第一个结果对于同步辐射微量元素分析非常有希望，因为我们估计通过使用适当的光学和探测器，可以将LLD降低约25倍。晶体单色仪的使用为超痕量元素的化学和结构分析进行吸收和散射实验（NEXAFS和X射线驻波法）开辟了新的可能性。

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铁电铌酸锂-钽酸锂铌酸锂单晶1–x个助教x个O（运行）三高温传感器和致动器应用的固体解决方案

声表面波的X射线衍射

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