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搜索结果结晶学杂志在线

为Miura,D找到了3条引文。

搜索D.三浦。世界结晶学家名录

结果1到3,按名称排序:


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自旋控制变分中子反射率可用于从单个样品和单个束源获得多条反射率曲线。该技术的这一优点允许对双层膜中的界面进行结构分析,该双层膜包括丙烯酸氨基甲酸酯树脂和甲基化的全氢聚硅氮烷衍生的二氧化硅(MePDS)层。结果表明,尽管MePDS层在与树脂的界面附近具有较高的孔隙率,但树脂没有渗透到孔隙网络中。

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发展了一种自旋控制变分中子粉末衍射技术,其中氢的相干散射长度由质子极化控制。该技术提取氢结构因子,氢原子对晶体结构因子的贡献。

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为了提高使用中子检测氢的灵敏度,已经证明了相对较大的蛋白质单晶的高压冷却和蛋白质多晶态的质子极化是初步实验。

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