摘要

《水晶学报》。(1996).A类52,C487型

各向异性散射微结构的MSANS研究

A.J.艾伦,J.伊拉夫斯基和G.G.长

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先进光子源高能超小角度X射线散射仪

J.伊拉夫斯基,A.J.艾伦,L.E.莱文,F.张,P.R.杰米安和G.G.长

Bonse–Hart型超小角度X射线散射仪正在开发中，该仪器利用硅（440）晶体光学，使用高于20keV的X射线。该仪器具有q个分辨率～2×10⁻⁵ Å⁻¹散射矢量范围为2×10⁻⁵至1.8º⁻¹并显示了未来运营的前景。

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先进光子源的超小角度X射线散射

J.伊拉夫斯基,P.R.杰米安,A.J.艾伦,F.张,L.E.莱文和G.G.长

介绍了阿贡国家实验室先进光子源多功能超小角度X射线散射仪的设计和操作。

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用于小角度X射线散射的硅光电二极管探测器

P.R.杰米安和G.G.长

建立了一个光电二极管X射线探测器，用于测量同步辐射源处的小角度X射线散射（SAXS），该探测器与双晶衍射仪SAXS相机配合使用，光子能量为5-11keV。在光子计数率高达10时，光电二极管探测器在该能量范围内的响应是线性的¹²光子^-1个因此，没有必要用校准箔衰减单色X射线束。对闪烁计数器和光电二极管探测器采集的SAXS数据进行了比较，表明在计数统计、数据采集速度和信噪比方面有显著改善。

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高温炉现场陶瓷加工过程中的小角度中子散射

H.M.科奇,H.E.Burdette先生和G.G.长

介绍了一种新型小角度中子散射炉的设计和运行情况。给出了材料加工动力学研究的一个实例。

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氧化铝致密化的多重小角中子散射表征

S.克鲁格,G.G.长和R.A.页码

使用多个小角中子散射跟踪α-Al中孔径分布的演变₂O（运行）_三通过烧结的中间和最后阶段。这种新技术可以研究0.08–10μm尺寸范围内的微观结构，这是许多材料系统的重要尺寸范围，而无需提高现有小角度散射仪器的分辨率。微观结构演变结果表明，在整个中间烧结阶段，氧化铝的有效孔径几乎恒定，从理论密度54%时的0.19μm到79%时的0.17μm不等。随着氧化铝的进一步致密化，存在一个过渡区，在此过渡区之后，在97.5%的密度下，有效孔径迅速增长至≥0.6μm。

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具有二十面体对称性的快速冷却合金的单晶结构。二、。理论分析-内部调制

Kuriyama先生和G.G.长

在这两篇论文的第一篇中导出的二十面体立方单元得到了进一步的发展。基于参考晶格上的周期调制，导出了原子位置的占据规则。导出结构的形式涉及部分斐波那契序列叠加，表明真正的结构是连续较大周期序列叠加的极限。导出了极限（非周期）结构的结构因子，并对概周期函数在二十面体相Al-Mn中的应用给出了一些物理见解。

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作为对比机制的超小角度X射线散射X射线成像

L.E.莱文和G.G.长

介绍了一种利用超小角X射线散射（USAXS）作为对比机制的新型透射X射线成像技术。USAXS成像是对USAXS的补充，可以提供有关散射物体大小、形状和空间排列的定量和定性三维信息。

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多孔二氧化硅前驱体微观结构的小角度散射测定

G.G.长,S.克鲁格,P.R.杰米安,D.R.黑色,H.E.Burdette先生,J.P.克莱恩和R.A.格哈特

对一系列具有不同起始化学性质的多孔二氧化硅先驱体（未烧结）进行了小角度X射线和小角度中子散射测量。样品由含有10至30%重量百分比的硅溶胶和90至70%重量百分比的硅酸钾的混合物制备而成。使用最大熵技术从数据中得出颗粒大小分布。多孔二氧化硅样品的散射数据特别适合这种分析，因为这些颗粒的胶体颗粒、团簇和聚集体被详细验证为球形，并且用于本研究的散射仪器覆盖了该材料的整个尺寸范围，并且经过了很好的校准。研究发现，胶体二氧化硅含量越低，二氧化硅聚集体的粒度分布越广。

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陶瓷致密化的多重小角中子散射表征：应用于微孔二氧化硅

G.G.长和S.克鲁格

利用多个小角中子散射表征了多孔二氧化硅的微观结构随热处理的变化。这项新技术提供了0.08–10μm范围内微观结构形态的统计显著测定，这在以前不增加当前可用散射光谱束线的分辨率的情况下是无法实现的。在本研究中，所有散射体都是陶瓷体内的孔隙，无论它们是开放的还是闭合的，都要进行测量。早期对微孔二氧化硅系统进行的汞孔隙度测定和氮脱附测量表明，该材料中有两个主要的孔隙群，孔隙大小相差约一个数量级。在这项工作中，发现在烧结的中间阶段，致密化伴随着微孔二氧化硅中大孔群内的粗化，粗化半径大于0.22μm。在烧结后期，不存在半径大于0.08μm的可检测孔隙，并测量了等于33和28 nm的回转半径。最后，进行了蒙特卡罗模拟，以补充中子散射测量，预测对双峰分布结果的影响，并探讨多重散射方法的灵敏度。

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现场位错对小角度X射线散射的观测

G.G.长,L.E.莱文和R.汤姆森

观察到单晶铝中位错的超小角度X射线散射就地作为塑性变形的函数。散射强烈依赖于样品的取向，单个位错、位错偶极子和壁内位错分布都显示出不同的散射轮廓。所观察到的微观结构特征包括：位错的有序分数、位错偶极子的存在、位错含量随应变的增加而增加之间的相关性，位错壁与周围近无位错材料的界面宽度随着变形的增加而减小。

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用于反常散射的高分辨率小角度X射线散射相机

G.G.长,P.R.杰米安,J.R.威特曼,D.R.黑色,H.E.Burdette先生和R.Spal公司

介绍了一种新型小角度X射线散射仪器的设计和操作，该仪器在同步辐射源下具有高吞吐量、高角度和波长分辨率、大样品截面积、精确的能量调谐、优良的信噪比和谐波抑制性能。给出了设计和实现的原则，以及绝对强度的初步校准和实验测量的细节。该仪器已被测试用于铬附近的异常散射测量K边缘。对热处理钢样品的初步结果表明，该实验能够将微观结构演变（富铬沉淀物温度的函数）与钢中其他沉淀物的热行为分离开来。

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位错结构的超小角X射线散射

G.G.长和L.E.莱文

从变形的单晶铝样品中获得了超小角度X射线散射数据。这些数据与最近关于位错壁散射的理论预测一致，从而可以提取定量的微观结构参数。

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各向异性微结构对中子的多孔散射

G.G.长,J.伊拉夫斯基和A.J.艾伦

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凝聚态物理学的最新进展编辑：J.T.Devreese

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二元溶液中胶体周围纳米晕的形成

G.G.长,F.张,P.R.杰米安,J.伊拉夫斯基,V.T.Milam公司和J.A.刘易斯

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具有二十面体对称性的快速冷却合金的单晶结构。一、实验分析

G.G.长和Kuriyama先生

将结晶分析应用于从快速冷却的Al-Mn合金上获得的一组电子衍射图案，以构建与观察到的二十面体结果一致的倒置晶格图案。通过分析，提出了一种原子尺度模型，该模型由两组实验调制推导而来，每组具有六个独立的调制矢量。底层结构有一个晶格，其单元包含32个具有所需对称性的原子位点。实验电子衍射图样的出现可以用该晶格与无理子晶格的相干排列来解释，也可以用一组独立的调制来解释。探讨了这种结构与三维非周期Penrose瓷砖的关系。

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