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R.J.克莱恩。
世界结晶学家名录
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《水晶学报》。
(2017).
A类
73
,
1443元
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小角度散射标准和绝对强度校准
A.J.艾伦
,
F.张
,
R.J.克莱恩
,
W.F.Guthrie公司
和
J.伊拉夫斯基
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J.应用。
克里斯特。
(2017).
50
,
462-474
https://doi.org/10.107/S1600576717001972
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NIST标准参考材料3600:小角度X射线散射绝对强度校准标准
A.J.艾伦
,
F.张
,
R.J.克莱恩
,
W.F.Guthrie公司
和
J.伊拉夫斯基
描述了NIST新标准参考材料(SRM)的认证,用于校准小角度X射线散射强度,包括SRM的目的、用途和适用性,以及提供的强度校准的局限性和不确定性。
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《水晶学报》。
(2019).
A类
75
,
a375型
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定向自组装嵌段共聚物的软X射线表征
R.J.克莱恩
和
D.F.周日
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《水晶学报》。
(2021).
A类
77
,
1178元
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小角度散射测量参考标准的研制
q个
校准
R.J.克莱恩
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《水晶学报》。
(2023).
A类
79
,
第69页
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新的小角度散射参考标准及其在bioSAXS中的应用
R.J.克莱恩
,
A.福尔兹
,
W.Guthrie公司
和
A.弗拉达尔
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J.应用。
克里斯特。
(2017).
50
,
1677-1690
https://doi.org/10.107/S160057671701408X
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具有分子各向异性的周期性纳米结构极化X射线散射建模
C.D.利曼
,
T.A.Germer公司
,
D.F.周日
,
D.M.德隆尚
和
R.J.克莱恩
描述了一个模型框架,该框架将纳米结构的分子取向与使用玻恩近似和全张量处理的极化共振软X射线散射测量相关联。
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J.同步辐射。
(2018).
25
,
1261-1270
https://doi.org/10.107/S1600577518005787
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西康
:数据可视化和分析的通用界面
R.J.潘多尔菲
,
D.B.艾伦
,
E.阿伦霍尔兹
,
巴罗佐-卢克
,
S.I.坎贝尔
,
T.A.卡斯韦尔
,
A.布莱尔
,
F.德卡洛
,
S.Fackler公司
,
A.P.福尼尔
,
G.弗雷切特
,
M.Fukuto先生
,
D.Gürsoy先生
,
Z.Jiang先生
,
H.克里希南
,
D.库马尔
,
R.J.克莱恩
,
R.李
,
C.利曼
,
S.马尔切西尼
,
A.梅塔
,
A.T.N'Diaye公司
,
D.Y.帕金森
,
H.公园
,
L.A.Pellouchoud公司
,
T.珀西亚诺
,
F.任
,
S.Sahoo公司
,
J.斯特扎尔卡
,
D.周日
,
C.J.塔松
,
D.乌西齐马
,
S.Venkatakrishnan公司
,
K.G.Yager公司
,
P.兹瓦特
,
J.A.塞提安
和
A.Hexemer公司
西康
是一个用于同步加速器数据分析、管理和可视化的图形环境。
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J.应用。
克里斯特。
(2015).
48
,
1355-1363
https://doi.org/10.107/S1600576715013369
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用小角度X射线散射测定纳米结构的形状和周期性
D.F.周日
,
S.列表
,
J.S.查拉
和
R.J.克莱恩
小角度X射线散射用于确定采用工业相关制造技术图案化的纳米结构的形状和周期性。
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J.应用。
克里斯特。
(2019).
52
,
106-114
https://doi.org/10.107/S1600576718017272
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嵌段共聚物光刻接触孔的X射线表征
D.F.周日
,
F.德拉查特
,
A.加尔比
,
G.弗雷切特
,
C.D.利曼
,
R.蒂龙
和
R.J.克莱恩
小角度X射线散射用于表征接触孔模板中嵌段共聚物的结构。
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J.应用。
克里斯特。
(2014).
47
,
1912-1920
https://doi.org/10.107/S1600576714021050
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可追踪GISAXS测量用于测定25nm自组装聚合物光栅的螺距
J.沃内克
,
M.克鲁姆雷
,
A.霍尔
,
R.J.克莱恩
,
H.K.刘
和
W.-L.Wu先生
通过首次可追踪的掠入射小角X射线散射(GISAXS)测量,确定自组装嵌段共聚物线光栅的25 nm标称间距为24.83(9)nm。
通过跟踪所有输入参数建立可追溯性;
主要贡献是测量采样检波器距离和像素大小。
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