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为Banhart，J.找到了13条引文。

搜索J.班哈特。世界结晶学家名录

结果1至13，按名称排序：

布拉格边缘中子透射测量中的温度依赖性

A.M.Al-Falahat公司,N.卡尔季洛夫,R.沃塞克,M.博因,H.马克特,L.T.库恩,M.Makowska先生,M.斯特罗布,B.普菲茨施纳,J.班哈特和一、曼克

为了研究中子透射信号与样品温度的关系，进行了系统研究。特别是，实验确定的马氏体钢在21至700°C温度范围内的波长相关中子衰减谱与模拟数据进行了比较。

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现场Al-Mg-Si合金中β′析出的单晶各向异性小角中子散射表征

C.S.T.Chang先生,F.德盖瑟和J.班哈特

对Al–Mg–Si合金时效过程中β′′沉淀的生长进行了表征就地通过在单晶上的小角度中子散射。测量了沉淀的长度、直径和数量密度。

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混合离子电子导体La的晶体结构、成分和吸水率的测定_5.4W公司_1倍重新_x个O（运行）_12-δ（0≤x≤0.2）

A.范丁,T.Scherb公司,J.西格,G.舒马赫,U.Gerhards公司,M.E.伊万诺娃,W.A.穆伦伯格,R.沟渠和J.班哈特

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重取代钨酸镧镧的晶体结构_5.4W公司_1−年重新_年O（运行）_12–δ(0 ≤年≤0.2）通过中子衍射研究

A.范丁,T.Scherb公司,J.西格,G.舒马赫,U.Gerhards公司,M.E.伊万诺娃,W.A.穆伦伯格,R.沟渠和J.班哈特

本工作详细描述了通过中子衍射研究的非取代和重取代钨酸镧的结构，它是温度在1.5到1200之间的函数采用热重分析和电子探针显微分析技术，结合中子衍射，定位LaWO晶体结构中的Re原子。

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钼取代钨酸镧镧的晶体结构_5.4W公司_1−年钼_年O（运行）_12−δ(0 ≤年≤0.2）通过X射线和中子衍射研究

A.范丁,T.Scherb公司,J.西格,G.舒马赫,U.Gerhards公司,M.E.伊万诺娃,W.A.穆伦伯格,R.抖动计和J.班哈特

本工作详细描述了钼取代钨酸镧的晶体结构，通过中子衍射和高分辨率X射线衍射确定其与温度之间的函数关系T型=10 K和T型=298 K。采用X射线和中子衍射联合精细化和电子探针显微分析来定位La晶体结构中的Mo原子_5.4W公司_1−年钼_年O（运行）_12−δ(0 ≤年≤ 0.2).

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EDDI光束线同时衍射的白光X射线透视和层析成像

F.加西亚·莫雷诺,C.吉梅内斯,P.H.卡姆,M.克劳斯,G.工资,J.班哈特和C.根泽尔

提出了一种同时成像和衍射的装置，该装置可产生每秒高达200帧和5.6µm有效像素大小的射线照片。汤姆图和衍射图在10秒内一起采集，这对就地研究。

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时间分辨率就地演化金属-泡沫颗粒的层析成像分析

F.加西亚·莫雷诺,P.H.卡姆,T.R.Neu公司和J.班哈特

时间分辨率设置就地多达25张断层照片的断层扫描⁻¹在德国BESSY II EDDI波束线上实施。通过分析金属泡沫颗粒的发泡行为，证明了这些方法的能力。

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1800 K熔炉设计用于就地同步辐射显微成像

R.Grupp公司,F.汉克尔,Nöthe先生,J.班哈特,B.基巴克和A.海贝尔

辐射炉的温度范围从室温到1800 K，设计和建造用于就地介绍了同步辐射显微层析技术。该炉在真空或任何惰性气体气氛下运行，加热和冷却速度极快。

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同时X射线透视/断层扫描和能量色散衍射在泡沫铝合金中的应用

C.吉梅内斯,M.帕普洛,P.H.卡姆,T.R.Neu公司,M.克劳斯,G.工资,J.班哈特,C.根泽尔和F.加西亚·莫雷诺

提出了X射线透视/层析成像和同时能量色散衍射，并应用于研究演化液态金属泡沫的演化。可以发现气泡形成、泡沫膨胀、泡沫密度演变、晶格参数和金属间相之间的关系。

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CONRAD-2：柏林亥姆霍兹中心的新型中子成像仪器

N.卡尔季洛夫,A.希尔格,一、曼克,R.沃塞克和J.班哈特

新型中子成像技术利用衍射、相位和磁对比度对材料进行表征。最近升级的柏林亥姆霍兹中心中子成像仪器（CONRAD-2）结合出色的空间分辨率，提供了全套创新技术。

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基于同步加速器的基于时空微分辨率的射线照相法研究液态金属泡沫中的快速现象

A.机架,F.加西亚·莫雷诺,T.Baumbach公司和J.班哈特

高速同步电子射线透视用于研究聚结事件（持续～2 ms）就地在液态金属泡沫中。

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受挫混合导体La中的纳米级有序_5.6工单_12-δ

T.Scherb公司,S.A.J.Kimber（S.A.J·金伯）,C.斯蒂芬,P.F.亨利,A.范丁,G.舒马赫,J.西格,J.只是,A.H.希尔和J.班哈特

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受挫混合导体La中的纳米级有序_5.6工单_12−δ

T.Scherb公司,S.A.J.Kimber（S.A.J·金伯）,C.斯蒂芬,P.F.亨利,G.舒马赫,S.Escolástico教堂,J.M.塞拉,J.西格,J.只是,A.H.希尔和J.班哈特

将中子和X射线衍射与对分布函数和EXAFS分析相结合，可以解决高度无序的质子和电子导体La的晶体结构_5.6工单_12−δ在平均长度和局部长度尺度上。

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