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通过使用具有磁性对比度(磁圆二色性)的软X射线透射显微镜,可以从所研究的系统中获得有价值的磁性信息。在此工作中,进一步提出了一种使用磁性软X射线透射层析成像作为理想工具来重建任意磁性样品的三维磁化结构的方法。

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