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阿尔瓦雷兹·普拉多，L.M。
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J.同步辐射。
(2018).
25
，
1144-1152年
https://doi.org/10.107/S1600577518005829
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二向色软X射线透射层析成像中磁化强度的三维重建
A.希罗-罗德里格斯
，
D.Gürsoy先生
，
C.法塔克
，
C.奎罗斯
，
A.索伦蒂诺
，
L·M·阿尔瓦雷斯-普拉多
，
M.Vélez先生
，
J.I.马汀
，
J.M.阿拉米达
，
E.佩雷罗
和
S.Ferrer公司
通过使用具有磁性对比度（磁圆二色性）的软X射线透射显微镜，可以从所研究的系统中获得有价值的磁性信息。
在此工作中，进一步提出了一种使用磁性软X射线透射层析成像作为理想工具来重建任意磁性样品的三维磁化结构的方法。
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