J.应用。克里斯特。(2019).52,122-132
https://doi.org/10.107/S1600576718017302

用暗场X射线显微镜绘制单个位错

A.C.雅各布森,H.西蒙斯,W·路德维希,C.伊尔迪林,H.利姆雷泽,L.波茨,C.Detlefs公司和H.F.鲍尔森

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