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J.应用。
克里斯特。
(1996).
29
,
531-539
https://doi.org/10.107/S0021889896003809
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使用低入射角和Bragg-Brentano纹理测角法进行薄膜研究。
Al和Al/Fe单层和双层的应用
A.蒂兹利奥伊
,
J.Bessières
,
J.J.海兹曼
和
J.F.波波
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