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J.同步辐射。
(2021)。
28
,
1820-1824
https://doi.org/10.107/S1600577521009401
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全电子产额模式下X射线吸收光谱测定薄膜厚度的实用方法
N.伊索穆拉
,
K.Oh-ishi先生
,
N.高桥
和
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