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J.应用。
克里斯特。
(2018).
51
,
1387-1395
https://doi.org/10.107/S1600576718011287
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利用平面内和平面外X射线纳米衍射对单个GaAs/(In,Ga)As/GaAs核-壳-壳纳米线进行完整的结构和应变分析
A.哈桑
,
A.达夫蒂安
,
H.Küpers公司
,
R·B·刘易斯
,
D.巴赫拉米
,
F.伯特伦
,
G.Bussone公司
,
C.里希特
,
L.Geelhaar先生
和
U.Pietsch公司
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